[发明专利]Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体基板的制造方法有效

专利信息
申请号: 200780008086.0 申请日: 2007-03-08
公开(公告)号: CN101432850A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: 上田和正;西川直宏;笠原健司 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;C30B29/38;H01L33/00;H01S5/323
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱 丹
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 氮化物 半导体 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及III-V族氮化物半导体基板的制造方法。

背景技术

用式InxGayAlzN(其中,0≤x≤1、0≤y≤1、0≤z≤1、x+y+z=1)示出的III-V族(日本的元素周期表)氮化物半导体,用于紫外、蓝色或绿色发光二极管元件,或紫外、蓝色或绿色激光二极管元件等半导体发光元件中。半导体发光元件应用于显示装置。

由于III-V族氮化物半导体大量结晶生长困难,所以III-V族氮化物半导体独立基板的制造方法无法实用化。因此,通过使用有机金属汽相生长法(MOVPE)等在蓝宝石基板之上外延生长III-V族氮化物半导体的方法,制造III-V族氮化物半导体基板。

但是,由于蓝宝石基板的晶格常数和热膨胀系数与III-V族氮化物半导体不同,所以在使用蓝宝石基板的方法中,在得到的III-V族氮化物半导体基板中会存在导入高密度的位错、发生翘曲、并产生裂纹的情形。

此外,提案有将在蓝宝石这样的衬底基板上生长的III-V族氮化物半导体与此衬底基板分离从而制造III-V族氮化物半导体基板的方法。例如提案有利用氢化物汽相生长法(HVPE)、在蓝宝石基板上生长GaN层、此后研磨并机械地去除蓝宝石基板的方法;或者,利用HVPE在蓝宝石基板上生长GaN层、此后照射激光脉冲从而剥离GaN层的方法。此外,在特开2000-12900号公报中,公开了作为容易去除的基板使用GaAs基板、利用HVPE在GaAs基板上生长GaN、此后用王水溶解去除GaAs基板的方法。并且,在特开2004-55799号公报中,公开了凹凸加工蓝宝石基板、在凸部的侧面及上面形成SiO2膜后生长GaN、此后冷却、剥离从而得到III-V族氮化物半导体基板的方法。

但是,这些方法无论哪一种方法也没有实用化,因而正寻求一种制造III-V族氮化物半导体基板的方法。

发明内容

本发明的目的在于,提供一种III-V族氮化物半导体基板的制造方法。本发明者等研讨III-V族氮化物半导体基板的制造方法的结果,直至完成本发明。

即,本发明提供一种包括工序(I-1)~(I-6)的III-V族氮化物半导体基板的制造方法:

(I-1)在衬底基板上配置无机粒子,

(I-2)以无机粒子为蚀刻掩模,干法蚀刻衬底基板,在衬底基板上形成凸部,

(I-3)在衬底基板上形成外延生长掩模用的被膜,

(I-4)去除无机粒子形成衬底基板的露出面,

(I-5)在衬底基板的露出面上生长III-V族氮化物半导体,

(I-6)将III-V族氮化物半导体与衬底基板分离。

此外,本发明提供一种包括工序(II-1)~(II-7)的III-V族氮化物半导体基板的制造方法:

(II-1)在衬底基板上配置无机粒子,

(II-2)以无机粒子为蚀刻掩模,干法蚀刻衬底基板,在衬底基板上形成凸部,

(II-3)去除无机粒子,

(II-4)在衬底基板上形成外延生长掩模用的被膜,

(II-5)去除凸部的顶部的被膜形成衬底基板的露出面,

(II-6)在衬底基板的露出面上生长III-V族氮化物半导体,

(II-7)将III-V族氮化物半导体与衬底基板分离。

附图说明

图1表示本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法1的工序。

图2表示本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法2的工序。

图中,1-衬底基板,1A-衬底基板的表面,1B-凸部,1C-凹部,2-无机粒子,3、13-被膜,4-生长掩模,5-III-V族氮化物半导体层。

具体实施方式

III-V族氮化物半导体基板的制造方法1

本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法1,包括工序(I-1)~(I-6)。

在工序(I-1)中,在衬底基板上配置无机粒子。例如,如图1(a)所示,准备衬底基板1,在衬底基板1的表面1A上配置无机粒子2。

例如,衬底基板由蓝宝石、SiC、Si、MgAl2O4、LiTaO3、ZrB2、CrB2构成,基于与III-V族氮化物半导体的反应性、热膨胀系数差、高温稳定性的观点,优选为蓝宝石、SiC、Si,更优选为蓝宝石。

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