[发明专利]Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体基板的制造方法有效
申请号: | 200780008086.0 | 申请日: | 2007-03-08 |
公开(公告)号: | CN101432850A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 上田和正;西川直宏;笠原健司 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C30B29/38;H01L33/00;H01S5/323 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱 丹 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及III-V族氮化物半导体基板的制造方法。
背景技术
用式InxGayAlzN(其中,0≤x≤1、0≤y≤1、0≤z≤1、x+y+z=1)示出的III-V族(日本的元素周期表)氮化物半导体,用于紫外、蓝色或绿色发光二极管元件,或紫外、蓝色或绿色激光二极管元件等半导体发光元件中。半导体发光元件应用于显示装置。
由于III-V族氮化物半导体大量结晶生长困难,所以III-V族氮化物半导体独立基板的制造方法无法实用化。因此,通过使用有机金属汽相生长法(MOVPE)等在蓝宝石基板之上外延生长III-V族氮化物半导体的方法,制造III-V族氮化物半导体基板。
但是,由于蓝宝石基板的晶格常数和热膨胀系数与III-V族氮化物半导体不同,所以在使用蓝宝石基板的方法中,在得到的III-V族氮化物半导体基板中会存在导入高密度的位错、发生翘曲、并产生裂纹的情形。
此外,提案有将在蓝宝石这样的衬底基板上生长的III-V族氮化物半导体与此衬底基板分离从而制造III-V族氮化物半导体基板的方法。例如提案有利用氢化物汽相生长法(HVPE)、在蓝宝石基板上生长GaN层、此后研磨并机械地去除蓝宝石基板的方法;或者,利用HVPE在蓝宝石基板上生长GaN层、此后照射激光脉冲从而剥离GaN层的方法。此外,在特开2000-12900号公报中,公开了作为容易去除的基板使用GaAs基板、利用HVPE在GaAs基板上生长GaN、此后用王水溶解去除GaAs基板的方法。并且,在特开2004-55799号公报中,公开了凹凸加工蓝宝石基板、在凸部的侧面及上面形成SiO2膜后生长GaN、此后冷却、剥离从而得到III-V族氮化物半导体基板的方法。
但是,这些方法无论哪一种方法也没有实用化,因而正寻求一种制造III-V族氮化物半导体基板的方法。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种III-V族氮化物半导体基板的制造方法。本发明者等研讨III-V族氮化物半导体基板的制造方法的结果,直至完成本发明。
即,本发明提供一种包括工序(I-1)~(I-6)的III-V族氮化物半导体基板的制造方法:
(I-1)在衬底基板上配置无机粒子,
(I-2)以无机粒子为蚀刻掩模,干法蚀刻衬底基板,在衬底基板上形成凸部,
(I-3)在衬底基板上形成外延生长掩模用的被膜,
(I-4)去除无机粒子形成衬底基板的露出面,
(I-5)在衬底基板的露出面上生长III-V族氮化物半导体,
(I-6)将III-V族氮化物半导体与衬底基板分离。
此外,本发明提供一种包括工序(II-1)~(II-7)的III-V族氮化物半导体基板的制造方法:
(II-1)在衬底基板上配置无机粒子,
(II-2)以无机粒子为蚀刻掩模,干法蚀刻衬底基板,在衬底基板上形成凸部,
(II-3)去除无机粒子,
(II-4)在衬底基板上形成外延生长掩模用的被膜,
(II-5)去除凸部的顶部的被膜形成衬底基板的露出面,
(II-6)在衬底基板的露出面上生长III-V族氮化物半导体,
(II-7)将III-V族氮化物半导体与衬底基板分离。
附图说明
图1表示本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法1的工序。
图2表示本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法2的工序。
图中,1-衬底基板,1A-衬底基板的表面,1B-凸部,1C-凹部,2-无机粒子,3、13-被膜,4-生长掩模,5-III-V族氮化物半导体层。
具体实施方式
III-V族氮化物半导体基板的制造方法1
本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法1,包括工序(I-1)~(I-6)。
在工序(I-1)中,在衬底基板上配置无机粒子。例如,如图1(a)所示,准备衬底基板1,在衬底基板1的表面1A上配置无机粒子2。
例如,衬底基板由蓝宝石、SiC、Si、MgAl2O4、LiTaO3、ZrB2、CrB2构成,基于与III-V族氮化物半导体的反应性、热膨胀系数差、高温稳定性的观点,优选为蓝宝石、SiC、Si,更优选为蓝宝石。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友化学株式会社,未经住友化学株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200780008086.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:连接构造体及其制造方法
- 下一篇:离子源的前板
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造