[发明专利]测试接入端口开关

权利要求书

1.一种用于提供对两个以上测试接入端口进行接入的测试接入端口TAP开关， 所述测试接入端口开关包括：

第一电路，其经配置以响应于包含在由所述测试接入端口开关接收的串行化指令 中的选择代码向所述测试接入端口中的选定一者提供时钟信号；

第二电路，其包括指令寄存器IR，对具有所述选择代码和与旁路指令相关联的位 序列的选择TAP指令进行响应，其中，所述IR用于经配置以将由所述测试接入端口 开关接收的串行化指令传递到所述选定测试接入端口的指令寄存器IR，其中，所述第 二电路进一步包括零位数据寄存器DR，所述零位数据寄存器经配置以响应于数据扫 描指令将由所述测试接入端口开关接收的串行化数据传递到所述选定测试接入端口； 及

第三电路，其经配置以响应于所述选择代码将从所述选定测试接入端口接收的串 行化数据转发到所述测试接入端口开关的输出。

2.如权利要求1所述的测试接入端口开关，其中所述指令寄存器经配置以响应 于选择测试接入端口指令捕获所述选择代码。

3.如权利要求2所述的测试接入端口开关，其中所述第二电路进一步包括锁存 电路，所述锁存电路经配置以存储由所述指令寄存器捕获的所述选择代码且将所述选 择代码提供给所述第一和第三电路。

4.如权利要求1所述的测试接入端口开关，其中所述第二电路进一步包括旁路 数据寄存器，所述旁路数据寄存器经配置以响应于旁路指令将由所述测试接入端口开 关接收的所述串行化数据转向到所述测试接入端口开关的所述输出。

5.如权利要求4所述的测试接入端口开关，其中所述旁路指令对应于指示测试 接入端口开关旁路状态的所述选择代码。

6.如权利要求5所述的测试接入端口开关，其中所述第三电路经配置以响应于 指示所述测试接入端口开关旁路状态的所述选择代码将所述经转向的串行化数据从所 述旁路数据寄存器转发到所述测试接入端口开关的所述输出。

7.如权利要求4所述的测试接入端口开关，其中所述第二电路进一步包括状态 机逻辑，所述状态机逻辑经配置以响应于指令寄存器指令选择所述指令寄存器、响应 于所述数据扫描指令选择所述零位数据寄存器且响应于所述旁路指令选择所述旁路数 据寄存器。

8.如权利要求1所述的测试接入端口开关，其中所述第一电路经配置以响应于 所述选择代码的改变向所述测试接入端口中的新选定一者提供所述时钟信号，所述指 令寄存器经配置以将随后由所述测试接入端口开关接收的串行化指令传递到所述新选 定测试接入端口，且所述第三电路经配置以响应于所述改变的选择代码将随后从所述  新选定测试接入端口接收的串行化数据转发到所述测试接入端口开关的所述输出。

9.如权利要求1所述的测试接入端口开关，其中所述第一电路包括多路分用器 电路且所述第三电路包括多路复用器电路。

10.一种电子系统，其包括：

多个电子电路组件，每一电子电路组件具有一测试接入端口TAP；及

测试接入端口开关，其用于提供对每一测试接入端口的接入，所述测试接入端口 开关包括：

第一电路，其经配置以响应于包含在由所述测试接入端口开关接收的串行化 指令中的选择代码向所述测试接入端口中的选定一者提供时钟信号；

第二电路，其包括指令寄存器IR，对具有所述选择代码和与旁路指令相关联 的位序列的选择TAP指令进行响应，其中，所述IR用于经配置以将由所述测试接 入端口开关接收的串行化指令传递到所述选定测试接入端口的指令寄存器IR，其 中，所述第二电路进一步包括零位数据寄存器DR，所述零位数据寄存器经配置以 响应于数据扫描指令将由所述测试接入端口开关接收的串行化数据传递到所述选 定测试接入端口；及

第三电路，其经配置以响应于所述选择代码将从所述选定测试接入端口接收 的串行化数据转发到所述测试接入端口开关的输出。

11.如权利要求10所述的电子系统，其中每一电子电路组件包括一与芯片上系 统集成电路相关联的核心。