[发明专利]测试接入端口开关

说明书

技术领域

本发明通常涉及电子电路组件的测试，且特定而言涉及接入和测试系统中的多个 电子组件。

背景技术

常见现代电子系统包括多个电子组件，每一组件在系统内能够实现特定功能或功 能集合。例如，常规计算机系统可包括一个或一个以上电子组件，例如微处理器、数 字信号处理器(DSP)、存储器装置、图形装置、输入/输出装置、物理存取装置(PHY)、 控制器和类似电子组件。其它系统可需要额外的或不同的组件。例如，无线通信系统 可包括模拟数字和数字模拟组件以及基带和其它信号处理组件。

需要现代电子系统中包含的每一电子组件应是可测试的。因此，每一电子组件在 系统内应是可接入的、可激励的和可观察的。在复杂性日益演进且现代电路设计集成 水平不断提高的情况下，隔离并测试系统内的组件提出特殊且困难的挑战。半导体处 理技术中的进步(例如)通过允许在更小的区域中制造具有增加的性能和新功能性的 更多晶体管而进一步加重了这些挑战。半导体处理技术中的进步还使各种半导体技术 能够整合到单一电路小片或芯片上。例如，双CMOS及/或双极装置可制造在同一电 路小片上以产生具有混合信号能力的集成电路(IC)。

当各种电子组件并入一个系统中时，与测试现代IC相关联的复杂性进一步增加。 接入并测试系统中单一组件的能力是复杂的。一个减少与隔离并测试包含在系统中的 个别组件相关联的某些复杂性的解决方案是IEEE边界扫描方法(IEEE1149.1)。IEEE 1149.1提供在系统中整合的各种电子组件可经由串行边界扫描路径互联的方法。可将 信息扫描到耦合到边界扫描路径的组件中和从所述组件中扫描输出。所述IEEE1149.1 标准减少接入、激励和观察系统内特定组件所需的信号I/O数目。

在一个实例中，可将所述IEEE1149.1边界扫描方法整合到无线通信装置中用于 测试包含在所述无线系统中的电子组件，例如DSP。可将DSP与其它系统组件隔离并 使用所述IEEE1149.1边界扫描方法对其进行测试。除每一边界扫描指令和数据寄存 器的长度以外，还需要每一组件在边界扫描路径中的位置来成功地接入DSP。因此， 通过移位信息通过其它组件直到信息到达DSP为止来隔离并测试例示性DSP。随后， 以类似的方式将结果扫描输出。因此，可经由减少引脚的边界扫描测试接口来接入并 测试包含在系统中的电子组件。

然而，与常规边界扫描方法相关联的串行扫描路径架构提出低电力应用(例如便 携式计算和无线通信应用)的特殊问题。在低电力系统中，可在不使用时给形成边界 扫描路径的一部分的一个或一个以上组件循环断电，借此延长系统的电池寿命。然而， 当对形成边界扫面路径一部分的组件断电时，不能可靠地接入路径中的其它组件，因 为在不对路径中的组件供电时串行扫描路径被中断或断路。按例程循环给组件供电和 断电的常规低电力系统可使得串行边界扫描架构最佳地用于隔离并接入分散的特定组 件。

此外，与常规边界扫描架构相关联的串行扫描路径减少测试性能，因为必须通过 形成扫描路径的每一组件将信息串行地加载到边界扫描路径中和从所述扫描路径中扫 描输出。可绕过扫描路径中没有被接入的组件，此按常规涉及在每一不活动元件中选 择一位的旁路寄存器以使得可经由一位的旁路寄存器通过边界扫描路径扫描串行信息 直到所述信息到达所需组件。然而，随着包含在现代电子系统中的电子组件数目的增 加，与绕过不受测试的每一组件相关联的效率可反面地影响性能。另外，指令寄存器 扫描操作所需的位数目对应于包含在系统中的所有指令寄存器的总位长度，因此随着 包含在系统中的组件数目增加，进一步增加测试时间。

发明内容