[发明专利]用于计算机断层成像和其它成像应用的背照式光电晶体管阵列无效
申请号: | 200780012926.0 | 申请日: | 2007-04-12 |
公开(公告)号: | CN101421848A | 公开(公告)日: | 2009-04-29 |
发明(设计)人: | R·A·梅茨勒;A·O·古什查 | 申请(专利权)人: | 森米科公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;陈景峻 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 计算机 断层 成像 其它 应用 背照式 光电晶体管 阵列 | ||
1.一种光电晶体管阵列,包括:
具有第一和第二面的第一导电类型的衬底;
在衬底的第一面上形成;
具有比衬底更高电导率的第一导电类型的隔离区域的矩阵;
散布在隔离区域的矩阵内的第二导电类型的第一区域;
在隔离区域的矩阵内的第一导电类型的集电极区域;
在隔离区域的矩阵内并与第一区域和集电极区域接触的第二导电类型的基极区域;
在隔离区域的矩阵内并与基极区域接触的第一导电类型的发射极区域;和
电耦合到发射极区域、隔离区域和集电极区域的接触区域;
衬底的第二面具有比衬底更高电导率的第一导电类型的层并且电耦合到集电极区域和隔离区域的矩阵;
其中集电极区域与隔离区域接触,并且集电极区域通过隔离区域电耦合到接触区域。
2.权利要求1的阵列,其中隔离区域从衬底的第一面延伸到衬底的第二面上的比衬底更高电导率的第一导电类型的所述层。
3.权利要求2的阵列,其中衬底的第二面上的比衬底更高电导率的第一导电类型的所述层通过隔离区域电耦合到集电极区域。
4.权利要求2的阵列,其中隔离区域从第一面扩散到衬底中。
5.权利要求2的阵列,其中隔离区域从第一面和第二面扩散到衬底中。
6.权利要求1的阵列,其中第一导电类型是N型,第二导电类型是P型。
7.权利要求1的阵列,其中第一导电类型是P型,第二导电类型是N型。
8.权利要求1的阵列,其中隔离区域的矩阵限定像素区域的阵列,每个像素区域在每个像素区域内具有一个第二导电类型的第一区域,一个集电极区域,一个第二导电类型的基极区域和一个发射极区域,每个像素的接触区域电耦合到相应像素区域内的发射极区域。
9.一种光电晶体管阵列,包括:
具有第一和第二面的第一导电类型的衬底;
在衬底的第一面上形成;
具有比衬底更高电导率的第一导电类型的隔离区域的矩阵;
散布在隔离区域的矩阵内的第二导电类型的第一区域;
在隔离区域的矩阵内的第一导电类型的集电极区域;
在隔离区域的矩阵内并与第一区域和集电极区域接触的第二导电类型的基极区域;
在隔离区域的矩阵内并与基极区域接触的第一导电类型的发射极区域;和
电耦合到发射极区域、隔离区域和集电极区域的接触区域;
衬底的第二面具有比衬底更高电导率的第一导电类型的层并且电耦合到集电极区域和隔离区域的矩阵;
其中第二导电类型的第一区域没有触及隔离区域。
10.一种光电晶体管阵列,包括:
具有第一和第二面的第一导电类型的衬底;
在衬底的第一面上形成;
具有比衬底更高电导率的第一导电类型的隔离区域的矩阵;
散布在隔离区域的矩阵内的第二导电类型的第一区域;
在隔离区域的矩阵内的第一导电类型的集电极区域;
在隔离区域的矩阵内并与第一区域和集电极区域接触的第二导电类型的基极区域;
在隔离区域的矩阵内并与基极区域接触的第一导电类型的发射极区域;和
电耦合到发射极区域、隔离区域和集电极区域的接触区域;
衬底的第二面具有比衬底更高电导率的第一导电类型的层并且电耦合到集电极区域和隔离区域的矩阵;
其中隔离区域的矩阵限定像素区域的阵列,每个像素区域在每个像素区域内具有多个第一区域、同样的多个集电极区域、同样的多个基极区域和同样的多个发射极区域,每个像素的接触区域电耦合到相应像素区域内的所有发射极区域。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的