[发明专利]弹性表面波装置有效

专利信息
申请号: 200780013480.3 申请日: 2007-04-04
公开(公告)号: CN101421921A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 西山健次;中尾武志;门田道雄 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: H03H9/145 分类号: H03H9/145;H03H9/25
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 弹性 表面波 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种例如用作谐振子或频带滤波器的弹性表面波装置,具体而言,涉及一种具有在LiNbO3基板上形成IDT电极和氧化硅膜的构造、且利用瑞利波的弹性表面波装置。 

背景技术

在便携电话机的RF段等中使用的频带滤波器中,要求宽频带且具有良好的温度特性。因此,以前使用如下弹性表面波装置,在由旋转Y板X传播的LiTaO3基板或旋转Y板X传播的LiNbO3基板构成的压电性基板上,形成IDT电极,且覆盖IDT电极地形成氧化硅膜。这种压电性基板的频率温度系数具有负值,为了改善温度特性,形成为具有正的频率温度特性的氧化硅膜覆盖IDT电极。 

但是,在这种构造中,在由正在通用的Al或以Al为主要成分的合金等形成IDT电极的情况下,IDT电极无法得到足够的反射系数。因此,存在谐振特性产生波纹等问题。 

作为解决这种问题的方案,在下述专利文献1中公开了一种弹性表面波装置,在由机电耦合系数K2为0.025以上的LiNbO3构成的压电性基板上,形成以密度比Al大的金属为主体的IDT电极,在形成该IDT电极的剩余区域中,将第1氧化硅膜形成为与电极相等的膜厚,层叠第2氧化硅膜,以覆盖该电极和第1氧化硅膜。 

在专利文献1中记载的弹性表面波装置中,上述IDT电极的密度为第1氧化硅膜密度的1.5倍以上,由此,充分提高IDT电极的反射系数,可抑制谐振特性中呈现的波纹。 

在专利文献1中,公开如下构成,利用瑞利波,作为上述电极材料,示例Au或Cu等,在由Cu构成的电极的情况下,其膜厚为0.0058λ~ 0.11λ,尤其示出通过设为0.0058λ~0.055λ,可增大瑞利波的机电耦合系数K2。另外,示出如下构成,作为上述LiNbO3基板,示出欧拉角为(0°±5°,38°±10°,0°)的LiNbO3基板,作为上述第2氧化硅膜的膜厚,当设为表面波波长λ时,为0.15λ~0.4λ的范围。 

专利文献1:WO2005-034347 

近年来,即便是弹性表面波装置也进一步高频化。因此,IDT电极中的电极指间距变小,电极指自身的幅度尺寸也变小。结果,布线电阻变大,弹性表面波装置中的损耗变得容易变大。 

为了降低弹性表面波装置中的损耗,只要增厚电极的膜厚即可。但是,在利用瑞利波的现有弹性表面波装置中,例如专利文献1记载的那样,由Cu构成的IDT电极的膜厚最厚也就是0.11λ。这是因为若由Cu构成的IDT电极的膜厚厚至0.11λ,则SH波的响应急剧变大,在谐振频率与反谐振频率之间出现较大的乱真(spurious)。因此,在专利文献1中,在IDT电极由Cu构成的情况下,其厚度为0.0058λ~0.11λ的范围,最好为0.0058λ~0.055λ。 

因此,在推进高频化,减小电极指间距或减小电极指幅度尺寸的情况下,由于不能再增厚电极膜厚,所以布线电阻变大,损耗变得容易变大。 

另外,如上所述,在具有第1、第2氧化硅膜的弹性表面波装置中,尽管通过形成氧化硅膜来改善频率温度特性,但仍存在特性因氧化硅膜的膜厚偏差而偏差的问题。 

发明内容

 本发明的目的在于消除上述现有技术的缺点,提供一种利用瑞利波的弹性表面波装置,为了实现高频化,即便在减小电极指间距或减小电极指幅度尺寸的情况下,也难以产生损耗增大。 

根据本发明,提供一种弹性表面波装置,具备:欧拉角为(0°±5°,θ±5°,0°±10°)的LiNbO3基板;电极,形成于所述LiNbO3基板上,包括以Cu为主体的IDT电极,并且所述IDT电极具有电极指;第1氧化硅膜,在所述IDT电极的电极指间,厚度与所述电极相等地形成;和第2氧化硅膜,覆盖所述电极和第1氧化硅膜地形成,利用瑞利波,其特 征在于:当表面波的波长为λ时,所述电极的膜厚为0.12λ~0.18λ的范围,所述欧拉角(0°±5°,θ±5°,0°±10°)的θ为满足下式(1)的范围, 

θ=32.01-351.92×exp(-TCU/0.0187)  …式(1) 

其中,TCU:以波长λ对Cu电极膜厚归一化后的值。 

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