[发明专利]测量装置

权利要求书

1.一种用于测量样品池(10)中运动的样品颗粒的测量装置，所述测量装置具有安装在样品池两端的用于填充和排空样品池(10)的填充装置(20)和排空装置(30)，以及用于辐射和观察颗粒的辐射装置(1)和观察装置(2)，其特征在于，借助于样品池支座(40)安装样品池(10)的体部(11)，并且填充装置(20)和排空装置(30)仅仅固定在样品池上，使得仅仅通过样品池支座(40)来确定/限定样品池(10)相对于其周围环境的位置。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，填充装置(20)和/或排空装置(30)借助于紧固装置(21、31)可拆卸地固定在样品池(10)上。

3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，紧固装置(21、31)包括快速锁合件。

4.如前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，在填充装置(20)或排空装置(30)上安装有与样品接触的电极(22、32)。

5.如权利要求1-3中任一项所述的测量装置，其特征在于，样品池支座(40)包括两个吸收力的局部支座(41、42)，这两个局部支座呈一定角度沿着贯穿样品池(10)两端的纵向轴线(X)伸展。

6.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于，局部支座(41、42)构成为点支座。

7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于，点支座包括支撑滚珠(43、44)或支枢点。

8.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于，一个局部支座(42) 包括三个用于限定一个平面的支撑点，另一个局部支座(41)包括两个用于限定一条直线的支撑点，其中所述直线不垂直于纵向轴线(X)延伸。

9.如权利要求1-3中任一项所述的测量装置，其特征在于，辐射装置(1)以及观察装置(2)直接或间接地与用于限定它们相对彼此位置的样品池支座(40)互相连接。

10.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置是用于测量颗粒的ζ电位或布朗值的测量装置。

11.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述紧固装置(21、31)包括卡口式接头。

12.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于，所述局部支座(41、42)是一个垂直局部支座和一个水平局部支座。

13.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于，所述角度为90度。

14.如权利要求8所述的测量装置，其特征在于，所述直线平行于纵向轴线(X)延伸。