[发明专利]测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量装置，尤其涉及一种用于测量样品池中运动的样 品颗粒的测量装置，例如用于测量样品颗粒的速度，以及由此导出的样品 颗粒的电泳迁移性、动电位(ζ电位)和布朗值的测量，该测量装置具有 安装在样品池两端的用于填充和排空样品池的填充装置和排空装置，以及 用于辐射和观察颗粒的辐射装置和观察装置。

背景技术

下面描述这种测量装置的一个应用实例，其中需要强调的是，本发 明并不仅仅适用于这个应用实例。

胶质、乳剂或固体悬浮液和混合剂必须经过尽可能长的时间保持稳 定和均匀。因此，要求越高，配方就越复杂。一种使分散材料稳定的可 能的方法是，优化同种类粒子间的静电推斥，以避免这些颗粒的凝结。 另一个在本文中所感兴趣的一组问题是，研究有针对性的不稳定以及分 散材料的分离，使得从离解作用中重新获得水用于循环。相当大比例的 用于分散材料分解的措施涉及到粒子荷电，只不过在这种情况下，使电 荷尽可能为零。为了能够操控它们，在所有情况下都必须知道电荷比。 ζ电位反映了这个电荷。利用传统的方法——微电泳，能够对其进行测 量。

在微电泳方法下，借助于激光和显微镜来辐射和观察存在于样品池 形式的电泳槽中的悬浮或乳剂带电粒子。利用通过显微镜拍摄的图片能 够推导出颗粒的速度。电场中颗粒的速度即是电荷量度，其电位能够作 为ζ电位来描述和测量。

这类测量的根本问题在于，测量设备及其组件(激光-显微镜-样品 池)间相互准确的定位。此外，能够容易地填充和清理样品池也是必要 的。

发明内容

本发明的目的是，提出一种在开头所述的测量装置，其应该尽可能 简单地填充和容易地清理，与此同时保持非常高的测量精度。

该目的通过根据本发明的测量装置得以实现。

尤其是该目的是通过在开头所述的测量装置得以实现，其中借助于样 品池支座安装样品池的体部。此时填充装置和排空装置仅仅固定在样品池 上，使得仅仅通过样品池支座来确定或限定样品池相对于周围环境的位 置。

因此本发明的要点是，大多数大而重的用于样品池填充和排空的装 置不影响样品池本身的定位。在某种程度上可以说，样品池也可以用作 支撑元件(与其实际目的相反)。

填充和/或排空装置最好可拆卸地固定在样品池上，在此利用紧固装 置。因此可以容易地清理样品池。如果紧固装置包括快速锁合件，尤其是 卡口式接头，那么样品池的清理就变得格外简单。而且无需借助任何工具 就可以进行。

如果设有电极(如上述列举的实例中)，那么其能够安装于不同的 地方。最好在填充和/或排空装置上安装有与样品接触的电极，使得样品池 能够构成为没有任何在清理时有阻碍的部件。

在一个优选的结构形式中，样品池支座包括两个可以吸收力的局部 支座，尤其是一个垂直局部支座和一个水平局部支座。这两个局部支座呈 一定角度——特别是呈90度角——沿着贯穿样品池两端的纵向轴线伸展。 局部支座构成为点支座，这允许特别精确的校准。借助于支撑滚珠或支枢 点能够特别简单和精确地制作点支座。

这两个局部支座中的一个局部支座包括三个用于限定一个平面的支撑 点并且支撑着样品池的一个表面。另一个局部支座包括两个用于限定一条 直线的支撑点，其中该直线不垂直于纵向轴线延伸，而最好平行于纵向轴 线延伸。利用这两个支撑点可以以确定的方式支撑与上面提到的样品池的 第一个表面相邻接的表面。这样产生的5点支座提供了垂直于样品池纵向 轴线的静态确定支座。按这种方式，相对于样品池周围环境，尤其是相对 于激光源和观察显微镜，可以提供一个无错误的并且可重复确定的样品池 支座。

辐射装置(激光)以及观察装置(显微镜)直接或间接地与用于限定 它们相对彼此位置的样品池支座一起连接。因此，在拆除并再安装上样品 池后，无需进行进一步的事后的校准，就能够总是在该装置上重复进行 测量。

附图说明

接下来借助于附图详细地阐述本发明的实施例。

图1示出具有支座的样品池的分解示意图，

图2示出图1中沿平面II-II的截面图，

图3示出具有填充和排空装置的样品池的纵向截面分解图，

图4示出图3中沿直线IV-IV的视图，

图5示出图3中沿直线V-V的截面图，

图6示出图3中沿直线VI-VI的截面图，以及