[发明专利]使用厚层转移工艺制造太阳能电池的方法和结构有效
申请号: | 200780022933.9 | 申请日: | 2007-09-10 |
公开(公告)号: | CN101473446A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 弗兰乔斯·J·亨利 | 申请(专利权)人: | 硅源公司 |
主分类号: | H01L31/00 | 分类号: | H01L31/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余 刚;吴孟秋 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 转移 工艺 制造 太阳能电池 方法 结构 | ||
1.一种用于使用大规模注入工艺制造光伏电池的方法,所述方法 包括:
提供瓦型半导体衬底,所述瓦型半导体衬底具有表面区、 解理区和位于所述表面区和所述解理区之间且将被去除的第 一厚度的材料;
使用高能量注入工艺、通过所述表面区将能够以质子模 式操作的多个氢粒子引入所述解理区的附近;
将所述瓦型半导体衬底的所述表面区耦合至衬底的第一 表面区,所述衬底包括所述第一表面区和第二表面区;
对所述半导体衬底进行解理以从所述瓦型半导体衬底去 除所述第一厚度的材料;以及
至少由与所述衬底叠置的以瓦型为特征的所述第一厚度 的材料形成太阳能电池。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一厚度的材料包括 单晶硅材料。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述解理包括受控解理工 艺。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述解理包括热解理工艺。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述瓦型半导体衬底处 在介于200至850摄氏度之间的温度范围内时,进行氢粒子引 入。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,在所述瓦型半导体衬底处 在介于300至600摄氏度之间的温度范围内时,进行氢粒子引 入。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述解理包括初始处理以 及扩展处理,以将所述第一厚度的材料从所述瓦型半导体衬底 的剩余部分去除。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述氢粒子以H+模式提 供。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述高能量注入工艺在从 300keV至2.1MeV的能量范围内使用完全非质量选择的H+。
10.根据权利要求1所述的方法,其中,所述高能量注入工艺在从 2.1MeV至5MeV的能量范围内使用H+。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,所述高能量注入工艺提 供范围从50um至220um的所述第一厚度的硅材料。
12.根据权利要求10所述的方法,其中,所述第一厚度的材料被 设置为独立于操作衬底。
13.根据权利要求1所述的方法,其中,所述瓦型半导体衬底包括 用于防止同时注入污染物的叠置电介质层,所述叠置电介质层 用做屏蔽层。
14.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一厚度的材料的所 述表面区附着至背衬衬底,从而露出所述第一厚度的材料的背 面表面区。
15.一种制造太阳能电池的方法,所述方法包括:
提供具有垂直于主表面的晶格取向、以及通过注入氢而 在表面下解理平面中形成的多个吸收点或多个缺陷区的半导 体衬底;以及
施加来自离子束和/或热能束的能量以在所述解理平面上 给予断裂应力,并执行受控解理工艺以释放独立膜。
16.根据权利要求15的方法,其中,垂直于被注入的所述半导体 衬底表面的晶格方向是<100>。
17.根据权利要求15的方法,其中,施加至所述半导体衬底的来 自离子束的热量给予所述断裂应力。
18.根据权利要求15的方法,其中,施加热能束以将所述断裂应 力给予所述半导体衬底。
19.根据权利要求18的方法,其中,所述热能束包括激光束。
20.根据权利要求18的方法,其中,来自所述热能束的热量产生 沿给予所述断裂应力的所述解理平面方向的热梯度。
21.根据权利要求20所述的方法,其中,所述热能束在沿所述解 理平面的方向上被扫描。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的