[发明专利]支持扫描测试的逻辑装置和方法有效
申请号: | 200780023024.7 | 申请日: | 2007-06-18 |
公开(公告)号: | CN101473238A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 马丁·圣劳伦特;保罗·巴塞特;普拉亚格·帕特尔 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 刘国伟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支持 扫描 测试 逻辑 装置 方法 | ||
1.一种逻辑装置,其包括:
数据输入;
扫描测试输入;
时钟多路分用器,其响应于时钟输入以选择性提供第一时钟输出和第二时钟输出; 主锁存器,其耦合到所述数据输入和所述扫描测试输入,所述主锁存器包含输出,所述主锁 存器响应于所述时钟多路分用器的所述第一时钟输出和所述时钟多路分用器的所述第 二时钟输出以将所述数据输入或所述扫描测试输入选择性耦合到所述输出;以及
从锁存器,其耦合到所述主锁存器的所述输出以响应于所述时钟输入将所述主锁存器 的所述输出耦合到数据输出。
2.根据权利要求1所述的逻辑装置,其进一步包括:
逻辑门,其耦合到所述数据输出且响应于输入以将所述数据输出选择性耦合到扫描测 试输出。
3.根据权利要求2所述的逻辑装置,其中所述输入包括模式选择输入。
4.根据权利要求1所述的逻辑装置,其中所述主锁存器包括:
数据存储元件,其选择性耦合到所述数据输入和所述扫描测试输入。
5.根据权利要求4所述的逻辑装置,其中所述数据存储元件包括:
一对反相器或三态反相器,其以交叉耦合配置布置,所述对反相器包含第一节点和第 二节点,其中所述第二节点相对于所述第一节点反转;以及
传输门或三态元件,其耦合到所述第一节点且响应于第一时钟输入以将所述数据输入 选择性耦合到所述第一节点。
6.根据权利要求4所述的逻辑装置,其中所述主锁存器进一步包括:
扫描测试电路,其耦合到所述扫描测试输入且响应于所述第二时钟输出以将所述扫描 测试输入选择性连接到所述数据存储元件。
7.根据权利要求1所述的逻辑装置,其进一步包括:
模式选择输入,其耦合到所述时钟多路分用器以选择性启动第一时钟输入或第二时钟 输入。
8.一种数字逻辑装置的操作方法,所述方法包括:
接收模式选择输入以在测试模式与操作模式之间进行选择;
基于所述模式选择输入和时钟输入选择性产生第一时钟或第二时钟;
响应于所述第一时钟将数据输入路由到存储元件的第一状态节点,所述存储元件具有 相对于所述第一状态节点反转的第二状态节点;
基于所述模式选择输入将扫描测试输入与所述存储元件的第二状态节点选择性隔离; 以及
响应于所述时钟输入经由锁存器将所述存储元件的所述第一状态节点路由到数据输 出。
9.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:
在测试模式中,将所述扫描测试输入路由到所述存储元件的所述第二状态节点,以及
响应于所述第二时钟将所述数据输入与所述第一状态节点隔离。
10.根据权利要求9所述的方法,其进一步包括接收控制输入以选择所述测试模式。
11.根据权利要求9所述的方法,其中所述测试模式包括扫描测试模式。
12.根据权利要求9所述的方法,其中路由所述扫描测试输入包括:
启用三态反相器或传输门以将所述扫描测试输入耦合到所述第二状态节点,所述三态 反相器或传输门包含耦合到所述扫描测试输入的数据输入、耦合到控制端子的控制输入 以及耦合到所述第二状态节点的输出;且
其中通过停用第二传输门或三态元件而将所述数据输入与所述第一状态节点隔离,所 述第二传输门或三态元件包含耦合到所述数据输入的数据输入端子、耦合到所述控制端 子的第一控制输入和第二控制输入,以及耦合到所述第一状态节点的输出,其中所述控 制端子相对于所述第一控制输入和所述第二控制输入反转。
13.根据权利要求8所述的方法,其中将所述数据输入路由到所述第一状态节点包括启用传 输门以将所述数据输入耦合到所述第一状态节点。
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