[发明专利]光学检测装置的性能确认方法及其使用的标准试剂有效

专利信息
申请号: 200780028990.8 申请日: 2007-12-25
公开(公告)号: CN101501496A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 平井光春;细见敏也;吉永由纪 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N33/53 分类号: G01N33/53;G01N21/64;G01N21/78;C12N15/09;C12Q1/68
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光学 检测 装置 性能 确认 方法 及其 使用 标准 试剂
【说明书】:

技术领域

本发明涉及对光学检测装置确认试样的光学信号的检测以 及上述试样的温度控制是否可以正常进行这些性能的方法、及 该方法所使用的标准试剂。

背景技术

近年来,作为检测基因的多态性、点突变等的新的检测方 法,分析核酸的融解温度(Tm:melting temperature)的方法正 在实用化。该分析方法例如通过上述核酸的融解曲线的分析来 进行,因此也被称为融解曲线分析或者Tm分析。

一般情况下,用以下方式来定义Tm值。持续加热包含双链 核酸的溶液,则260nm处的吸光度将上升。这是因为位于双链 核酸的双链之间的氢键通过加热而解开,并解链为单链核酸(核 酸的融解)。并且,所有的双链核酸解链成单链DNA时,其吸 光度显示为加热开始时的吸光度(仅双链核酸的吸光度)的约 1.5倍左右,据此可判断为融解完毕。根据这种现象,融解温度 Tm(℃)一般情况下被定义为吸光度到达吸光度全部上升量的 50%时的温度。

通过利用核酸的该特性,例如,如下操作可以检测目标位 点的多态性、突变等。也就是说,首先,使用与含有突变型的 目标位点的目标核酸序列互补的突变型检测用探针、使作为分 析对象的单链核酸和上述探针形成双链核酸,对所形成的双链 核酸进行加热处理,并测定伴随温度上升的上述双链核酸显示 解链(融解)的信号。而且由测得的信号值的行为来确定Tm值、 由所确定的Tm值来判断目标位点有无突变的方法(参照非专利 文献1和专利文献1)。双链核酸的同源性越高则Tm值也越高, 双链核酸的同源性越低则Tm值也越低。因此,分别对包括突变 型的目标位点的目标核酸序列和与其100%互补的突变型检测 用探针形成的双链核酸、以及上述目标位点为野生型的核酸序 列和上述突变型检测用探针形成的双链核酸,预先求出作为评 价标准的Tm值。如前面所述,因同源性越高Tm值也越高,所 以前者、即目标位点为突变型时的Tm值(以下、也称为Tmm值) 相对较高,后者、即目标位点为野生型时的Tm值(以下、“Tmw值”)则相对较低。而且,对由作为分析对象的单链核酸和上述 突变型检测用探针所形成的双链核酸,如上所述地进行信号测 定,例如,从作成的融解曲线来检测信号变化的峰值,显示该 峰值的温度、即Tm值如果与预先求得的Tmm值为同等程度,则 单链核酸和上述探针为100%匹配,即,作为分析对象的核酸的 上述目标位点的多态性可判断为突变型。另一方面,如果显示 上述峰值的Tm值比预先求得的Tmm值低、与Tmw值为同等程度 时,则单链核酸和上述探针的有一个碱基错判,作为分析对象 的核酸的上述目标位点的多态性可判断为野生型。另外,对于 多态性为纯合性还是杂合性也可进行判断。也就是说,对一对 等位基因进行分析时,在融解曲线在Tmm值附近和Tmw值附近 的双处存在峰的情况下,可判断为杂合性;另一方面,仅在Tmm值附近存在峰的情况下,可判断为突变型的纯合性,仅在Tmw值附近存在峰的情况下,可判断为野生型的纯合性。

在该分析中,广泛使用例如使用用荧光物质标记过的探针 作为上述探针,测定上述荧光物质的荧光作为信号的方法。在 这种利用Tm分析的检测方法中,通常使用具备用于检测试样的 光学信号的检测单元和用于控制上述试样的温度的温度控制单 元的光学检测装置,该装置以各种商品形式销售。

如前所述,在Tm分析中,因为通过测定伴随温度变化的光 学信号的变化来确定Tm值,所以上述光学检测装置是否能正确 控制上述试样的温度、或能否正常检测上述试样的光学信号这 两点极为重要。因此,为了维持上述光学检测装置分析结果的 可靠性,必须对光学信号的检测性能和温度控制性能二者进行 确认。因此,对于光学信号的检测来说,能否正确测定光学信 号可如下进行确认:准备包含已知浓度的已知荧光物质,对上 述溶液在规定的温度条件下测定上述荧光染料的信号强度(荧 光强度)来判断是否正常。另一方面,对于试样的温度控制来 说,能否正确控制上述试样温度可如下进行确认:将试样放置 在上述光学检测装置的规定位置(以下称“试样放置部”),通过 实际测定上述试样的温度,来判断上述装置的温度控制单元能 否正确控制温度。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱科来株式会社,未经爱科来株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200780028990.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top