[发明专利]用于生成改进的衍射略图的系统和方法

说明书

技术领域

本发明一般涉及用于生成衍射略图(profile)的系统和方法，更具体地， 涉及用于生成改进的衍射略图的系统和方法。

背景技术

2001年9月11日的事件激发了对机场行李的更有效和严格筛选的强制 要求(urgency)。安全的强制要求从对于刀和枪支对随身携带的背包进行检查 扩展到对于尤其强调隐藏的爆炸物的一系列危险物对检验的背包进行彻底检 查。X射线成像是当前用于筛选的普遍的技术。然而，现有的设计用于爆炸 物和非法物质的检测的x射线行李扫描仪不能区分一定密度范围内的无害物 质和危险物质(如塑料爆炸物)，该扫描仪包括计算机断层成像(CT)系统。

与x射线行李扫描仪所提供的相比，基于多个x射线衍射(XRD)技术 的多个识别系统提供了改进的物质区分。XRD识别系统测量物质中的多个微 晶体的晶格平面之间的多个d间隔。

然而，XRD识别系统是不够的，因为XRD识别系统消耗大量能量。此 外，XRD识别系统难以检查大的箱子。

发明内容

在一个方面，描述了一种用于生成改进的衍射略图的系统。所述系统包 括：至少一个x射线源，配置为生成x射线；以及主准直仪，输出第一x射 线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点。所述主准直仪从所述x射 线生成所述第一x射线束和第二x射线束。所述系统还包括：容器；以及第 一散射检测器，配置为检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第 一组散射射线，以及检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的第二 组散射射线。由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最多是 由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。

在另一方面，描述了一种用于生成改进的衍射略图的系统。所述系统包 括：至少一个x射线源，配置为生成x射线；以及主准直仪，输出第一x射 线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点。所述主准直仪从所述x射 线生成所述第一x射线束和第二x射线束。所述系统还包括：容器；以及第 一散射检测器，配置为检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第 一组散射射线，以及检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的第二 组散射射线。由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最多是 由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。所述系统还 包括处理器，耦合到所述第一散射检测器，并且配置为从由所述第一散射检 测器检测的第一和第二组散射射线中生成一部分衍射略图。

在另一方面，描述了一种用于生成改进的衍射略图的方法。所述方法包 括：通过激活至少一个x射线源生成x射线；以及通过主准直仪输出第一x 射线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点。所述主准直仪从所述x 射线生成所述第一x射线束和第二x射线束。所述方法还包括通过第一散射 检测器检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第一组散射射线； 以及通过第一散射检测器检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的 第二组散射射线。由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最 多是由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。

附图说明

图1是用于生成物质的改进的衍射略图的系统的实施例的立方图。

图2是用于生成物质的改进的衍射略图的系统的实施例的方框图。

图3是用于生成物质的改进的衍射略图的系统的实施例的方框图。

图4是用于生成x射线图像的系统的实施例的方框图。

图5是用于生成物质的改进的衍射略图的系统的替代实施例的立方图。

图6是图示用于开发图1系统的主准直仪的虚拟系统的实施例的图。

图7是实现主准直仪的系统的实施例的图。

图8是图1系统的机架的实施例的顶视图。

图9是机架的实施例的另一顶视图。

图10是机架的实施例的另一顶视图。

图11是机架的替代实施例的图。

图12是图11的机架的顶视图。

具体实施方式