[发明专利]微量分析测定装置及使用该装置的微量分析测定方法有效

专利信息
申请号: 200780038443.8 申请日: 2007-10-18
公开(公告)号: CN101523222A 公开(公告)日: 2009-09-02
发明(设计)人: 关实;高木纯也;山本一喜;赤木良教 申请(专利权)人: 积水化学工业株式会社
主分类号: G01N35/08 分类号: G01N35/08;G01N21/78;G01N21/82;G01N33/483;G01N33/566;G01N37/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张平元
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 微量分析 测定 装置 使用 方法
【权利要求书】:

1.一种微量分析测定装置,其包括:

m行、n列的检测部,其分别与废液用微流路连通,

m行、n列的腔室,其通过混合流路与各检测部连通,

n条第1微流路,每条第1微流路通过被动阀分别与各行的同一列的腔 室连通,

m条第2微流路,每条第2微流路通过被动阀分别与各列的同一行的 腔室连通,以及

第3微流路,其与各腔室相连通,并用于供给气体和/或清洗液,

所述m和n分别为2~10的整数。

2.根据权利要求1所述的微量分析测定装置,其中,第1微流路、第 2微流路和第3微流路与气体发出源相连接。

3.根据权利要求1所述的微量分析测定装置,其中,n条第1微流路 彼此独立。

4.根据权利要求2所述的微量分析测定装置,其中,n条第1微流路 彼此独立。

5.根据权利要求1所述的微量分析测定装置,其中,m条第2微流路 彼此独立。

6.根据权利要求2所述的微量分析测定装置,其中,m条第2微流路 彼此独立。

7.根据权利要求3所述的微量分析测定装置,其中,m条第2微流路 彼此独立。

8.根据权利要求4所述的微量分析测定装置,其中,m条第2微流路 彼此独立。

9.根据权利要求1~8中任一项所述的微量分析测定装置,其中,腔室 的容积和检测部的容积大小为皮升~微升数量级,并且腔室的容积大于或等 于检测部的容积。

10.根据权利要求1~8中任一项所述的微量分析测定装置,其中,

在第1基板的一面上形成有混合流路用凹部、腔室用凹部、第1微流 路用凹部、第3微流路用凹部、以及与第1微流路用凹部和腔室用凹部连 通的被动阀用凹部,

在第2基板的一面上形成有第2微流路用凹部、用于废液用微流路的 凹部、以及与第2微流路用凹部连通的被动阀用凹部,

在第3基板上形成有检测部用贯通孔、以及将与第2微流路连通的被 动阀和腔室用凹部连通的贯通孔,

在第1基板的一面与第2基板的一面之间叠层第3基板,形成检测部、 腔室、被动阀、第1微流路、第2微流路、第3微流路以及废液用微流路。

11.根据权利要求9所述的微量分析测定装置,其中,

在第1基板的一面上形成有混合流路用凹部、腔室用凹部、第1微流 路用凹部、第3微流路用凹部、以及与第1微流路用凹部和腔室用凹部连 通的被动阀用凹部,

在第2基板的一面上形成有第2微流路用凹部、用于废液用微流路的 凹部、以及与第2微流路用凹部连通的被动阀用凹部,

在第3基板上形成有检测部用贯通孔、以及将与第2微流路连通的被 动阀和腔室用凹部连通的贯通孔,

在第1基板的一面与第2基板的一面之间叠层第3基板,形成检测部、 腔室、被动阀、第1微流路、第2微流路、第3微流路以及废液用微流路。

12.根据权利要求10所述的微量分析测定装置,其中,第2基板或第 2基板中与检测部对应的部分是透明的。

13.根据权利要求11所述的微量分析测定装置,其中,第2基板或第 2基板中与检测部对应的部分是透明的。

14.根据权利要求10所述的微量分析测定装置,其中,在第1基板中 与检测部对应的表面固定有与被分析物等同的标准物质。

15.根据权利要求11所述的微量分析测定装置,其中,在第1基板中 与检测部对应的表面固定有与被分析物等同的标准物质。

16.根据权利要求12所述的微量分析测定装置,其中,在第1基板中 与检测部对应的表面固定有与被分析物等同的标准物质。

17.根据权利要求13所述的微量分析测定装置,其中,在第1基板中 与检测部对应的表面固定有与被分析物等同的标准物质。

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