[发明专利]半导体陶瓷组合物及其制备方法无效
申请号: | 200780040496.3 | 申请日: | 2007-10-26 |
公开(公告)号: | CN101528633A | 公开(公告)日: | 2009-09-09 |
发明(设计)人: | 岛田武司;田路和也 | 申请(专利权)人: | 日立金属株式会社 |
主分类号: | C04B35/46 | 分类号: | C04B35/46;H01C7/02 |
代理公司: | 北京泛诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 文 琦;杨本良 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 陶瓷 组合 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及用于PTC热敏电阻、PTC加热器、PTC开关、温度检测器等、且具有正电阻温度的半导体陶瓷组合物及其制备方法。
背景技术
通常,作为显示出PTCR特性(正电阻温度系数:PositiveTemperature Coefficient of Resistivity)的材料,已经提出了将多种半导体掺杂物添加到BaTiO3中的组合物。这些组合物的居里温度为约120℃。取决于用途,需要改变这些组合物的居里温度。
例如,已经提出了通过向BaTiO3中添加SrTiO3来改变居里温度。然而在这种情况下,所述居里温度仅在负方向上改变而不在正方向上改变。目前,已知仅有PbTiO3作为用于在正方向上改变居里温度的添加材料。然而,由于PbTiO3含有引起环境污染的元素,因此近年来需要不使用PbTiO3的材料。
对于BaTiO3半导体陶瓷,为了防止由Pb的替代所导致的电阻温度系数的降低、以及降低电压依赖性从而提高半导体陶瓷的生产率和可靠性的目的,已经提出了通过下述步骤来制备BaTiO3半导体陶瓷的方法:将Nb、Ta和稀土元素中的一种或多种元素添加到结构式为Ba1-2x(BiNa)xTiO3的组合物中,其中BaTiO3(其中不使用PbTiO3)的一部分Ba被Bi-Na替代,并且x被控制在0<x≤0.15的范围内;在氮气中烧结所述组合物;以及此后使所述组合物在氧化气氛中进行热处理(参见专利文献1)。
专利文献1:JP-A-56-169301
发明内容
本发明所要解决的问题
专利文献1在实施例中公开了将所有成分(例如起始材料,包括BaCO3、TiO2、Bi2O3、Na2O3和PbO)在煅烧之前进行混合,然后进行煅烧、成形、烧结和热处理。
然而,在BaTiO3的一部分Ba被Bi-Na替代的组合物中,当如专利文献1所述将所有成分在煅烧之前进行混合时,Bi可能在煅烧步骤中蒸发,从而引起Bi-Na的组成改变,进而促进了不同相的形成,并且可能引起室温电阻的增加和居里温度的波动。
可考虑在低温下进行煅烧以抑制Bi的蒸发。然而,尽管通过该方法可能抑制Bi的蒸发,但是不能形成完全固溶体并且不能获得需要的特性。
本发明的目的是提供一种不含Pb的半导体陶瓷组合物及其制备方法,该半导体陶瓷组合物能够在正方向上改变居里温度并且极大地降低室温电阻。
另外,本发明的另一个目的是提供一种BaTiO3的一部分Ba被Bi-Na替代的半导体陶瓷组合物及其制备方法,该半导体陶瓷组合物能够在煅烧步骤中抑制Bi的蒸发、能够抑制Bi-Na的组成改变从而抑制不同相的形成、能够进一步降低室温电阻、以及能够抑制居里温度的波动。
解决问题的手段
为了达到上述目的,作为深入研究的结果,本发明人发现,在BaTiO3的一部分Ba被Bi-Na替代的半导体陶瓷组合物的制备中,当单独制备Ba(TiM)O3煅烧粉末(M为半导体掺杂物)和(BiNa)TiO3煅烧粉末,并且将Ba(TiM)O3粉末和(BiNa)TiO3粉末分别在对其最合适的温度下进行煅烧(Ba(TiM)O3粉末在相对高的温度下煅烧而(BiNa)TiO3粉末在相对低的温度下煅烧),可以抑制Ba(TiM)O3煅烧粉末中的Bi的蒸发,以及可以防止Bi-Na的组成改变从而抑制不同相的形成;并且当将这些煅烧粉末混合、成形和烧结时,可以获得具有低的室温电阻并能够抑制居里温度的波动的半导体陶瓷组合物。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日立金属株式会社,未经日立金属株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200780040496.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:由硅合金化多相钢制造扁钢产品的方法
- 下一篇:半导体陶瓷组合物及其制备方法