[发明专利]用于电子器件或其它制品上的涂层的杂化层有效
申请号: | 200780045610.1 | 申请日: | 2007-10-31 |
公开(公告)号: | CN101553600A | 公开(公告)日: | 2009-10-07 |
发明(设计)人: | S·瓦格纳;P·曼德克里克 | 申请(专利权)人: | 普林斯顿大学理事会 |
主分类号: | C23C16/24 | 分类号: | C23C16/24;C23C16/40;C23C16/02;C23C30/00;H01L31/0224;H01L51/52 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李 帆 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 电子器件 其它 制品 涂层 杂化层 | ||
1.在表面上形成涂层的方法,包括:
提供前体材料源;
将前体材料输送到与待涂覆表面邻接的反应位置;和
使用该前体材料源通过化学气相沉积在该表面上沉积厚度为 0.1-10μm的杂化层,其中该杂化层包含聚合物材料和非聚合物材料的 混合物,其中聚合物材料与非聚合物材料的重量比在95∶5至5∶95范 围内,且其中聚合物材料与非聚合物材料产生自相同的前体材料源,
其中在对于沉积过程的所有反应条件均相同的反应条件下沉积杂 化层。
2.权利要求1的方法,其中前体材料是六甲基二硅氧烷或二甲基 硅氧烷。
3.权利要求1的方法,其中前体材料包含单一有机硅化合物。
4.权利要求1的方法,其中前体材料包含有机硅化合物的混合 物。
5.权利要求1的方法,其中化学气相沉积是等离子体增强的。
6.权利要求5的方法,还包括提供反应物气体,且其中在该反应 物气体存在下发生化学气相沉积。
7.权利要求6的方法,其中反应物气体是氧。
8.权利要求1的方法,其中聚合物材料与非聚合物材料的重量比 在90∶10至10∶90范围内。
9.权利要求1的方法,其中聚合物材料与非聚合物材料的重量比 在25∶75至10∶90范围内。
10.权利要求1的方法,其中聚合物材料是含硅聚合物。
11.权利要求1的方法,其中非聚合物材料包含含硅化合物。
12.权利要求11的方法,其中含硅化合物是无机的。
13.权利要求1的方法,还包括在沉积杂化层之前使用前体材料 源在表面上沉积未混合的聚合物层。
14.权利要求1的方法,还包括在沉积杂化层之前使用前体材料 源在表面上沉积未混合的非聚合物层。
15.权利要求1的方法,还包括在沉积杂化层之后使用前体材料 源在表面上沉积未混合的聚合物层。
16.权利要求1的方法,还包括在沉积杂化层之后使用前体材料 源在表面上沉积未混合的非聚合物层。
17.权利要求1的方法,其中沉积状态的杂化层具有在36°-60° 范围内的水滴润湿接触角。
18.权利要求1的方法,其中杂化层是光学透明的。
19.权利要求18的方法,其中杂化层从近紫外至近红外光谱具有 大于90%的透光率。
20.权利要求1的方法,其中在沉积杂化层之前预处理表面以改 善该表面和杂化层之间的界面结合。
21.权利要求20的方法,其中预处理表面的步骤包括化学处理。
22.权利要求20的方法,其中预处理表面的步骤包括物理-化学 处理。
23.权利要求22的方法,其中物理-化学处理是等离子体处理。
24.权利要求20的方法,其中预处理的步骤包括在沉积杂化层之 前在表面上设置中介层。
25.权利要求24的方法,其中中介层包含用于提高表面和杂化层 之间的界面结合的材料。
26.权利要求1的方法,还包括:
使用该前体材料源通过化学气相沉积在该表面上沉积多个杂化 层,其中各个杂化层独立地包含聚合物材料和非聚合物材料的混合物, 其中聚合物材料与非聚合物材料的重量比在95∶5至5∶95范围内,且 其中聚合物材料与非聚合物材料产生自相同的前体材料源,
其中对于多个杂化层中的每一个,在对于沉积过程的所有反应条 件均相同的反应条件下沉积杂化层。
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C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
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C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的