[发明专利]PLL老化电路以及半导体集成电路无效

专利信息
申请号: 200780048484.5 申请日: 2007-12-20
公开(公告)号: CN101573870A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 山田祐嗣;木下雅善;曾川和昭;中冢淳二 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H03L7/099 分类号: H03L7/099;H03L7/08
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: pll 老化 电路 以及 半导体 集成电路
【权利要求书】:

1.一种PLL老化电路,向构成内置于半导体集成电路中的锁相 环电路的压控振荡器中的将对电压电流变换晶体管的栅极端子施加 的电压变换为电流的电压电流变换晶体管施加老化用的电压,其中, 以下将上述锁相环电路称为PLL,其特征在于,具备:

电流源,一端与第一电源连接;

第一晶体管,具有与上述电压电流变换晶体管相同极性,并且漏 极端子与上述电流源的另一端连接且源极端子与第二电源连接;以及

电位切换单元,在PLL老化时,使上述压控振荡器的栅极端子 的电位与上述第一晶体管的栅极端子的电位以及漏极端子的电位相 等,在通常动作时,使上述电压电流变换晶体管的栅极端子成为高阻 抗。

2.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 位切换单元具有:

二极管连接路径,连接上述第一晶体管的栅极端子与漏极端子之 间;以及

开关元件,使上述电压电流变换晶体管的栅极端子与上述第一晶 体管的栅极端子之间在高阻抗状态与连接状态之间切换。

3.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 位切换单元具有开关元件,该开关元件使上述第一晶体管的栅极端子 与漏极端子之间在高阻抗状态与连接状态之间切换。

4.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 位切换单元包括:

二极管连接路径,连接上述第一晶体管的栅极端子与漏极端子之 间;以及

开关元件,使该第一晶体管的源极端子与上述第二电源之间在高 阻抗状态与连接状态之间切换。

5.根据权利要求2所述的PLL老化电路,其特征在于,代替上 述开关元件,在上述电压电流变换晶体管的栅极端子与上述第一晶体 管的栅极端子之间,具备电阻与上述开关元件相互串联连接而成的串 联连接体。

6.根据权利要求3或4所述的PLL老化电路,其特征在于,在 上述电压电流变换晶体管的栅极端子与上述第一晶体管的栅极端子 之间插入了电阻。

7.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 流源由电阻构成。

8.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 流源由晶体管构成。

9.根据权利要求2至4中的任意一项所述的PLL老化电路,其 特征在于,上述电流源是能调整电流量的可变电流源。

10.根据权利要求9所述的PLL老化电路,其特征在于,还具 备监视电路,该监视电路对从上述压控振荡器输出的信号的频率进行 监视,并根据该监视结果使上述可变电流源的电流量可变。

11.根据权利要求2至4中的任意一项所述的PLL老化电路, 其特征在于,上述第一晶体管的晶体管尺寸是可变的,

上述PLL老化电路还具备使该第一晶体管的晶体管尺寸可变的 晶体管尺寸可变单元。

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