[发明专利]PLL老化电路以及半导体集成电路无效
申请号: | 200780048484.5 | 申请日: | 2007-12-20 |
公开(公告)号: | CN101573870A | 公开(公告)日: | 2009-11-04 |
发明(设计)人: | 山田祐嗣;木下雅善;曾川和昭;中冢淳二 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H03L7/099 | 分类号: | H03L7/099;H03L7/08 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | pll 老化 电路 以及 半导体 集成电路 | ||
1.一种PLL老化电路,向构成内置于半导体集成电路中的锁相 环电路的压控振荡器中的将对电压电流变换晶体管的栅极端子施加 的电压变换为电流的电压电流变换晶体管施加老化用的电压,其中, 以下将上述锁相环电路称为PLL,其特征在于,具备:
电流源,一端与第一电源连接;
第一晶体管,具有与上述电压电流变换晶体管相同极性,并且漏 极端子与上述电流源的另一端连接且源极端子与第二电源连接;以及
电位切换单元,在PLL老化时,使上述压控振荡器的栅极端子 的电位与上述第一晶体管的栅极端子的电位以及漏极端子的电位相 等,在通常动作时,使上述电压电流变换晶体管的栅极端子成为高阻 抗。
2.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 位切换单元具有:
二极管连接路径,连接上述第一晶体管的栅极端子与漏极端子之 间;以及
开关元件,使上述电压电流变换晶体管的栅极端子与上述第一晶 体管的栅极端子之间在高阻抗状态与连接状态之间切换。
3.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 位切换单元具有开关元件,该开关元件使上述第一晶体管的栅极端子 与漏极端子之间在高阻抗状态与连接状态之间切换。
4.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 位切换单元包括:
二极管连接路径,连接上述第一晶体管的栅极端子与漏极端子之 间;以及
开关元件,使该第一晶体管的源极端子与上述第二电源之间在高 阻抗状态与连接状态之间切换。
5.根据权利要求2所述的PLL老化电路,其特征在于,代替上 述开关元件,在上述电压电流变换晶体管的栅极端子与上述第一晶体 管的栅极端子之间,具备电阻与上述开关元件相互串联连接而成的串 联连接体。
6.根据权利要求3或4所述的PLL老化电路,其特征在于,在 上述电压电流变换晶体管的栅极端子与上述第一晶体管的栅极端子 之间插入了电阻。
7.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 流源由电阻构成。
8.根据权利要求1所述的PLL老化电路,其特征在于,上述电 流源由晶体管构成。
9.根据权利要求2至4中的任意一项所述的PLL老化电路,其 特征在于,上述电流源是能调整电流量的可变电流源。
10.根据权利要求9所述的PLL老化电路,其特征在于,还具 备监视电路,该监视电路对从上述压控振荡器输出的信号的频率进行 监视,并根据该监视结果使上述可变电流源的电流量可变。
11.根据权利要求2至4中的任意一项所述的PLL老化电路, 其特征在于,上述第一晶体管的晶体管尺寸是可变的,
上述PLL老化电路还具备使该第一晶体管的晶体管尺寸可变的 晶体管尺寸可变单元。
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