[发明专利]光伏装置的制造方法有效
申请号: | 200780052695.6 | 申请日: | 2007-12-20 |
公开(公告)号: | CN101652866A | 公开(公告)日: | 2010-02-17 |
发明(设计)人: | 西村邦彦;松野繁 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李今子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光伏(photovoltaic)装置的制造方法,特别涉及降 低基板表面上的光反射率来增大光吸收量而得到良好的光电转换效 率的光伏装置的制造方法。
背景技术
为了提高太阳能电池等光电转换装置的性能,需要将太阳光高效 地取入到构成太阳能电池的基板内部中。因此,通过对光入射侧的基 板表面实施组织(texture)加工,使在表面反射一次的光再次入射到 表面,由此将更多的太阳光取入到基板内部中,以谋求提高光电转换 效率。在此,组织加工是指,在基板表面故意形成几十nm~几十μm 的尺寸的微细凹凸的加工。
作为在太阳能电池用基板上形成组织的方法,在基板是单晶基板 的情况下,广泛使用利用了晶体方位的各向异性蚀刻处理,在该各向 异性蚀刻处理中,利用了由在蚀刻速度上具有晶体方位依赖性的氢氧 化钠、氢氧化钾等碱水溶液。例如,如果对(100)面的基板表面实 施该各向异性蚀刻处理,则形成(111)面露出的金字塔状的组织。
但是,在使用碱水溶液来进行各向异性蚀刻的方法中,当对于基 板使用多晶基板时,由于蚀刻速度根据晶体面较大地不同,而且结晶 面方位未对齐,所以只能够部分地制作组织结构。因此,具有在反射 率降低上存在界限这样的问题。例如,波长628nm中的反射率在表面 被镜面研磨的硅时为约36%,在对(100)面的硅单晶基板进行了湿 式蚀刻的情况下为约15%,相对于此,在对多晶基板进行了湿式蚀刻 的情况下是27~30%左右。
因此,作为不依赖于结晶面方位而在整个面上形成组织结构的方 法,提出了使用耐蚀刻掩模的混合酸蚀刻。蚀刻掩模的制作方法虽然 也可以使用半导体工艺中使用的基于平板印刷的方法,但制造成本提 高而不适用于太阳能电池制作。因此,提出了通过在耐蚀刻性材料的 溶液中混合耐蚀刻性低的微粒子,并涂敷在基板面,由此形成耐蚀刻 掩模的方法。之后,使用对不同的结晶面方位也可以实现各向同性的 蚀刻的氟硝酸(fluoronitric acid)来进行组织形成(例如参照专利文 献1)。
或者,还提出了使用激光加工在硅基板上直接形成组织的方法 (例如参照专利文献2)。
专利文献1:日本特开2003-309276号公报
专利文献2:日本特开平3-89518号公报
但是,在使用了氟硝酸的蚀刻中,由于蚀刻的各向同性而发生无 法形成较深的组织这样的问题。即,由于横向与深度方向的蚀刻进展 相同,所以蚀刻形状成为半球状。在此,在将蚀刻形状的深度/直径定 义为纵横比(aspect ratio)时,在各向同性蚀刻的情况下,无法形成 纵横比大于0.5的形状。实际上,由于耐蚀刻掩模开口径被加到蚀刻 形状的直径上,所以仅能够得到0.5以下的纵横比。
由于形成组织的目的在于再次取入反射光,所以反射光需要以再 次到达基板面的角度被反射。在组织的纵横比低的情况下,只有相对 基板面的垂线具有较大角度的反射光能够再次入射到基板面。
另一方面,在通过激光直接形成组织的情况下,虽然具有可以自 由地设定纵横比的优点,但存在加工所需的时间并不实用这样的问 题。而且,与期望的纵横比的增大相应地,用于形成组织的加工时间 增大。
发明内容
本发明是鉴于上述点而完成的,其目的在于提供一种可以简便地 形成纵横比大于0.5的组织的光伏装置的制造方法。
本发明的光伏装置的制造方法包括:在硅基板上形成具有耐蚀刻 性的膜的工序;通过照射激光光束,在上述具有耐蚀刻性的膜上打开 多个微细孔而使基底的硅基板表面露出的工序;以及对上述硅基板的 表面进行蚀刻的工序,在使硅基板表面露出的工序中,在上述微细孔 的底部露出的上述硅基板的表面形成微细凹陷。
根据本发明,通过在具有耐蚀刻性的膜上打开的多个微细孔对硅 基板进行蚀刻,进而在露出的硅基板面上形成微细凹陷,所以不会受 到结晶面方位的影响,可以在短时间内在硅基板上形成纵横比大于0.5 的较深的组织,可以制造表面反射损失少的光伏装置。
附图说明
图1是本发明的实施方式1的光伏装置的制造方法中使用的在耐 蚀刻膜上打开多个开口的装置的光学系统的说明图。
图2是示出本发明的实施方式1的光伏装置的制造方法的工序的 一部分的图。
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