[发明专利]插入件、托盘及电子元件测试装置

权利要求书

1.一种在电子元件测试装置内搬送的托盘上可微动地设置的、可容纳被测试电子元件的插入件，具备：

可在接近容纳于所述插入件的所述被测试电子元件的上表面的闭位置和从容纳于所述插入件的所述被测试电子元件的上表面退避的开位置之间移动的卡闩构件，和

将所述卡闩构件可旋转地支撑于插入件主体的支撑构件，

所述卡闩构件至少在所述插入件的平面视图上以所述支撑构件为旋转中心旋转动作。

2.根据权利要求1所述的插入件，其特征在于，所述支撑构件以所述支撑构件的轴方向基本上平行于所述被测试电子元件的容纳方向或倾斜于所述容纳方向的方式设置在所述插入件主体上。

3.根据权利要求1或2所述的插入件，其特征在于，所述卡闩构件在倾斜于所述插入件主体的主要面的平面上以所述支撑构件为中心旋转动作。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的插入件，其特征在于，伴随着所述卡闩构件的旋转动作，所述卡闩构件的顶端在所述被测试电子元件的容纳方向上的位置变化。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的插入件，其特征在于，所述卡闩构件在所述开位置基本上沿所述插入件主体的长度方向。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的插入件，其特征在于，所述插入件主体具有在所述开位置将所述卡闩构件容纳于内部的容纳凹部。

7.根据权利要求6所述的插入件，其特征在于，所述容纳凹部沿所述插入件主体的长度方向设置。

8.根据权利要求1～7中任一项所述的插入件，其特征在于，所述插入件还具备向所述闭位置对所述卡闩构件施力的第1弹性体。

9.根据权利要求1～8中任一项所述的插入件，其特征在于，所述插入件还具备可推压所述卡闩构件的后端地设置在所述插入件主体上的操纵器，

所述卡闩构件的旋转中心位于所述卡闩构件的顶端和后端之间，

通过借助于所述操纵器推压所述卡闩构件的后端，使所述卡闩构件的顶端从所述闭位置向所述开位置旋转动作。

10.根据权利要求9所述的插入件，其特征在于，所述插入件还具备向远离所述插入件主体方向对所述操纵器施力的第2弹性体。

11.根据权利要求9或10所述的插入件，其特征在于，所述插入件还具备设置在所述插入件主体上、可推压所述操纵器的操纵器板，

外力借助于所述操纵器板及所述操纵器作用在所述卡闩构件的后端。

12.根据权利要求1～11中任一项所述的插入件，其特征在于，所述插入件还具备保持容纳于所述插入件的所述被测试电子元件的载体，

所述卡闩构件，在所述闭位置接近保持于所述载体的所述被测试电子元件的上表面，在所述开位置从保持于所述载体的所述被测试电子元件的上表面退避。

13.根据权利要求12所述的插入件，其特征在于，所述载体具有插入所述被测试电子元件的端子的多个通孔。

14.根据权利要求11或12所述的插入件，其特征在于，所述载体可装卸于所述插入件主体。

15.一种在电子元件测试装置内搬送的托盘，具有：

权利要求1～14中任一项所述的插入件，和

可微动地保持所述插入件的框架构件。

16.一种通过将被测试电子元件的端子向测试头的接触部推压进行所述被测试电子元件的测试的电子元件测试装置，具备：

在将所述被测试电子元件容纳于权利要求15所述的托盘的状态下，将所述被测试电子元件推压在所述接触部上的测试部、

将容纳未测试的所述被测试电子元件的所述托盘搬入所述测试部的装载部，以及

将容纳已测试的所述被测试电子元件的所述托盘搬出所述测试部的卸载部，

在所述装载部、所述测试部及所述卸载部循环搬送所述托盘。