[发明专利]激光清洁系统及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种探针治具的清洁系统，尤指一种利用激光投射在所欲清洁的探针上以清洁探针治具的系统。

背景技术

传统制造印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)或集成电路(Integrated Circuit，IC)等完成后会通过探针治具来检测其电路是否正常后，再将产品送往下游市场，以减低市场回收产品的可能性。探针治具上相对于电路板上的电路位置设有导电性探针，当两者相接触时导致电连接并形成一导通信号，通过该导通信号的分析可以检测该电路板的电路架构是否正常。

工业制造中，此类产品的产量相当庞大，而探针治具亦需要检测大量的电路板成品。长时间使用下，探针尖端会累积污物，使得阻抗提高灵敏度降低，而产生误判的情况。就传统处理方法而言，当发现探针治具因污物累积而失去正常检测功用时，多利用人工方法以擦拭布或刷子等物理方式对探针脏污部位进行清洁，然而可能因为人工施力不当而造成探针治具结构的损伤，减少探针使用寿命。已知发展出许多不同避免人为直接操作以清洁探针的方式，如美国第2007069745号及第6118290号、中国台湾第M268727号所示，通过机械运作主动将脏污的探针移动至清洁布上，以进行污物清除；此种仍是通过直接接触以物理性磨擦方式清洁污物，易造成探针的损伤。此外，如中国台湾第200720679号及第288178号专利、美国第6420891号专利所示，通过一喷嘴喷出气体以清洁该探针，或如中国台湾第301017号专利，将探针浸泡于清洁液中的方式等，虽然可以减少因磨擦所造成探针结构的损坏，但因为去污能力不足，亦无法成为理想的去污方法，而清洁液也会造成污染。

已知一美国专利案(第US6573702号)，揭示一种用以清洁电子测试接点的方法及装置，主要是通过激光辐射的方式，使探针上的污物产生反应，以移除该污物。虽然利用激光辐射可有效清除污物且不需直接与该探针接触，可以避免探针结构上的损害，然而此专利案所示的清洁方法，仅可判断哪些探针卡接触错误，之后仍必须倚赖人工判读探针卡整体中有哪些探针需要清洁或是全面清洁，若待清洁的探针数量庞大，亦增添工作人员的困扰以及时间。

发明内容

本发明的主要目的，在于避免清洁探针时直接接触而导致结构损坏的问题，并试图主动清除探针上的污物，不需人工涉入以达到完全自动化以及节省人力成本。为实现上述目的，本发明提供一种激光清洁系统，应用于探针治具上探针污物的清除，包括有辨识单元，连结于该辨识单元的处理单元，以及至少一受到该处理单元驱动的激光产生单元。该辨识单元架设于该探针治具的相对应位置用以辨识该探针治具上至少一待清探针，并取得对应该待清探针位置的辨识信号，该处理单元接收该辨识信号并产生驱动信号，该激光产生单元受到该驱动信号的驱动以投射至少一激光于该待清探针。

其中，该辨识单元包含获得该探针治具的影像信息的影像撷取装置，以及连结于该影像撷取装置的影像辨识系统，辨识出该待清探针的影像以产生表示该待清探针的平面位置的辨识信号；此外，该辨识单元包含与该探针治具上各探针形成电连结的导接式侦测装置，该导接式侦测装置具有趋向该探针治具位移的测试板，该测试板与该探针接触而导通产生辨识信号供该所接触的探针传送至该处理单元；将所得到的平面位置以及垂直位置整合于处理单元中，驱动该激光产生单元将激光精确投射于该待清洁区域。

除此之外，本发明还提供一种搭配于上述激光清洁系统的方法，包含步骤有：检测该探针是否需要进行清洁；将探针治具固定于平台；辨识该探针治具上至少一待清探针；取得该待清探针位置的辨识信号；令该待清探针与待激光投射区域形成相对应关系；以及投射至少一激光于该待清探针，以清除该待清探针尖端上的污物。其中，可通过主动位移该探针治具，或者主动引导该激光的方式使该待清探针与该待激光投射区域形成相对应关系。

通过本发明系统与方法，可以有效利用激光辐射的方法对于待清探针的污物进行清除的动作，避免过去对探针直接接触而损害其结构。此外，本发明可以通过辨识单元辨识探针治具上待清探针，不需经由人工检查便可精确决定出待清除的探针，并驱动激光投射至该待清探针的尖端完全清除所附着的污物，相较于传统以及已知技术，大幅提升除污效率以及减少所耗费的人力与时间资源。

附图说明

图1是本发明激光清洁系统一优选实施例的整体外观立体示意图。

图2是本发明激光清洁系统一优选实施例的基本架构方块示意图。