[发明专利]光图像计测装置

说明书

技术领域

本发明关于一种光图像计测装置，将光束照射到被测定物体上，使用其反射光或穿透光，形成被测定物的表面形态。

背景技术

近年来，使用激光光源等的光束来形成显示被测定物体表面形态与内部型态的光图像计测技术备受瞩目。此光图像计测技术因为不像X射线CT装置般的对人体有侵袭性，所以受期望能在医疗领域的应用开展。

日本特开平11-325849号公报(专利文件1)揭示一种光图像计测装置，其结构为：测定臂通过旋转式转向镜(检流计镜)对物体进行扫描，在参照臂上设置参照镜，而更在其出口处，利用干涉仪，将来自计测臂和参照臂的光束的干涉而呈现的光的强度以分光仪进行分析，并在参照臂设置装置以不连续的值阶段地改变参照光光束的相位。

专利文件1的光图像计测装置是使用以德国专利申请案公开第DE4309056A号说明书(专利文件2)为基本技术，即所谓的傅立叶OCT(Fourier Domain Optical Coherence Tomography)的手法。也就是说，对被测定物体照射低相干光，将基于该反射光的干涉光加以分光(频谱分解)，再以CCD等的光检测器检测其频谱强度，对该检测结果进行傅立叶变换，借此将被测定物体的深度方向的型态进行图像化。在此，由信号光和参照光产生的干涉光，被光纤(导光元件)导引，由光纤端射出，并且通过绕射光栅等进行频谱分解，而被光检测器检测出来。

再者，专利文件1记载的光图像计测装置具备扫瞄光束(信号光)的检流计镜，借此可以形成被测定物体所要的测定对象区域的图像。另外，在此光图像计测装置中，因为仅在与z方向垂直的一个方向对光束进行扫描，形成的图像会成为沿着光束扫描方向且在深度方向的二维剖面图像。

另外，日本专利申请公开第特开2003-543号公报(专利文件3)揭示将这种光图像计测装置应用在眼科领域的架构。

在这种光图像计测装置中，导引干涉光的光纤的光纤端位置以及作频谱分解的干涉光进行检测的光检测器之间的位置关系是重要的。也就是说，若其间的位置关系有偏移的话，作频谱分解的干涉光将无法被正确地照射到光检测器的受光面，光检测器无法接收干涉光，或光检测器的受光光量变得不充分，而使图像无法正确地形成。

在旧有的光图像计测装置中，光纤端和光检测器的受光面的位置关系混乱的场合，使用者以手动的方式调整光纤端的位置和光检测器的位置，或者是呼叫维修服务公司的维修员来进行位置调整。

这样的话，在旧有个光图像计测装置中，要历经很繁杂的手续和时间，才能够进行光纤端和受光面的定位。

另外，光纤端和受光面的位置关系的适当与否因为如果没有实际进行计测是无法得知的，所以使用者无法在所要的时间点取得图像。

另外，因为光纤端面的直径是微小到数μm左右的程度，所以光纤端和光检测器的受光面的定位并需要非常精密地进行。另外，很多使用线传感器作为光检测器，但是线传感器的宽度一般是数μm到数十μm左右，所以在宽度方向的定位需要特别精密地进行。另一方面，光纤端和受光面的位置关系容易受到对装置框体的冲击、温度和湿度的环境条件等而产生变化。因此，在旧有的光图像计测装置，光纤端和受光面的精密定位需要相当频繁地进行。

发明内容

本发明有鉴于上述问题，提供一种光图像计测装置，其可以容易地调整从导光元件的干涉光的出射位置以及接受干涉光的受光面的位置关系。

为了达成上述目的，本发明提出一种光图像计测装置，其包括：光源、干涉光产生元件、导光元件、分光元件、受光元件、指定元件以及变更元件。光源输出低相干光。干涉光产生元件将低相干光分割成信号光以及参照光，并使经由被测定物体的信号光和参照光重迭，以产生干涉光。导光元件导引干涉光。分光元件对导引的干涉光进行分光。受光元件接收分光的干涉光，其中基于受光元件的受光结果，形成被测定物体的图像。指定元件对经由导光元件和分光元件的光的受光元件的受光面的照射状态，进行指定。变更元件基于照射状态，改变从导光元件的光的出射端以及受光面间的相对位置及/或方向。

在上述光图像计测装置中，导光元件为光纤，而变更元件包含产生驱动力的驱动元件，通过驱动力，改变光纤的出射端的位置及/或方向。

在上述光图像计测装置中，变更元件包含产生驱动力的驱动元件，通前述驱动力，改变受光面的位置及/或方向。

在上述光图像计测装置中，指定元件基于受光元件的光的受光结果，指定对受光面的前述光的照射状态。

在上述光图像计测装置中，指定元件基于由受光元件接收的光的受光光量，指定对受光面的光的照射位置。变更元件基于照射位置，改变出射端和受光面间的相对位置。