[发明专利]一种背接触太阳能电池的制备技术无效

专利信息
申请号: 200810000942.4 申请日: 2008-01-09
公开(公告)号: CN101483205A 公开(公告)日: 2009-07-15
发明(设计)人: 励旭东;宋爽;勾宪芳 申请(专利权)人: 北京市太阳能研究所有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 接触 太阳能电池 制备 技术
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种太阳能电池的制备技术,特别是一种应用于背接触电池的制备技术。

背景技术

背接触电池是一种结构较为特殊的晶体硅太阳能电池。其典型特征为:电池的两个电极全部制作在电池的背表面。与常规的晶体硅电池相比,背接触太阳能电池有明显的优点:(1)正面没有电极,避免了电极遮光,减少了对光的反射;(2)发射区电极的面积不受限制,减少了电极电阻及接触电阻;(3)两个电极在同一表面上,方便了电池互联,使电池的封装更容易。

目前,常见的背接触电池有:美国Sunpower公司的背面叉指状电极的背接触电池(IBC电池);发射区穿通电池(EWT电池,包括常规的EWT电池以及RISE-EWT、POWER-EWT等其它结构的电池);金属穿通(MWT)电池以及金属环绕(MWA)电池等。这些不同结构的背接触电池都有各自的优点,但与常规电池相比,突出的弱点是制备工艺较为复杂。以IBC电池为例,由于电池的发射区、基区电极和发射区电极全部在电池的背表面,制备过程中需要进行多次掩蔽、扩散、光刻(或精细丝网印刷)等工艺步骤,工艺成本较高。

发明内容

本发明的目的是提供一种简单的制备背接触太阳能电池的技术,简化背接触太阳能电池的制备工艺。

为实现上述目的,本发明采取以下技术方案:选择P型或N型晶体硅硅片为衬底,在所述硅片的背表面淀积掺杂源,然后利用激光对欲形成掺杂区的区域进行加热,使掺杂源中的杂质扩散进入硅片中。而没有激光加热的区域温度较低,掺杂源不会进入硅片。激光处理结束后,残留的掺杂源可以很容易清除掉。这样,就在限定的区域形成了掺杂区。采用这种方法,可以简单地实现背表面限定区域内的掺杂,从而明显简化背接触电池的制备工艺。

该方法具体包括以下步骤:

(1)采用厚度为100~500μm,电阻率为0.2~500Ωcm的P型或N型晶体硅作为衬底;

(2)用常规方法在所述硅衬底正表面作表面织构化;然后作常规清洗;

(3)在所述硅衬底背表面,淀积掺杂源。所述掺杂源为含磷、或锑、或硼、或铝、或镓等III族或V族掺杂剂的化合物或混合物。淀积方法包括喷涂、印刷以及其它常规的淀积方法;

(4)利用激光对欲形成掺杂区的区域进行加热形成掺杂区。所用激光的波长为400~1200nm,通过控制激光参数,可以将该区域内所述硅衬底的温度加热至850~1400℃。该区域内所述掺杂源中的掺杂剂受热向所述硅衬底中扩散,从而形成掺杂区。如果掺杂剂与所述硅衬底中的掺杂剂类型相同(同为III族掺杂剂或同为V族掺杂剂),则掺杂区和所述硅衬底的导电类型相同,掺杂区可作为高掺杂的基区接触区;如果掺杂剂与所述衬底中的掺杂剂类型不同(掺杂源中含III族掺杂剂,而所述硅衬底含V族掺杂剂;或掺杂源中含V族掺杂剂,而所述硅衬底含III族掺杂剂),则掺杂区和所述硅衬底的导电类型相反,掺杂区可作为电池的发射区。掺杂区的表面掺杂浓度为1×1017cm-3~3×1020cm-3,掺杂深度为0.05~2微米,薄层电阻为5~500Ω/□;

(5)激光处理结束后,用水或其它溶剂清洗的方法除去残留的掺杂源;

(6)采用常规的丝网印刷、真空蒸发或溅射方法,在所述掺杂区上制备基区或发射区金属电极。

本发明由于采取以上技术方案,具有以下优点:1、通常的背接触电池基区电极和发射区电极全部在电池的背表面,如果采用常规的扩散方法形成发射区和高掺杂的基区接触区,就需要进行多次扩散、掩蔽(或刻蚀)工艺。而采用激光加热掺杂源实现掺杂的方法后,可以通过选择激光加热的区域,实现特定区域内的掺杂。这样就避免了多次掩蔽(或刻蚀)工艺,大大简化了背接触电池的制作步骤;2、利用激光加热掺杂源实现掺杂的方法精度高,可以达到精细丝网印刷的水平;3、激光加热工艺与常规扩散工艺相比,对环境洁净度的要求低;而且除掺杂区外,硅片的其它部分温度低,避免了硅衬底在高温过程中可能的沾污或其它因素导致的质量下降。

具体实施方式

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