[发明专利]成像装置和成像方法

说明书

本案是申请日为2005年5月17日、申请号为200510072721.4、发明名称为“成像装置和成像方法”的发明专利申请的分案申请。

相互参考的相关申请

本发明包含于2004年5月在日本专利局申请的日本专利申请JP2004-145945的主题内容，将其全部内容援引与此作为参考。

技术领域

本发明涉及一种成像装置和一种成像方法，其检测成像器件的缺陷像素并且用检测的结果补偿缺陷像素的图像信号。

背景技术

在生成阶段，成像器件可能会有像素缺陷，该成像器件是安装在电子照相机或类似的设备中的并且对目标成像。这些像素缺陷输出电平不正常的信号。这样，如果用有像素缺陷的成像器件的输出信号产生图像，图像中就会包括目标中没有的错误信息。结果是，图像变得不自然。

这样的缺陷像素可能因为各种原因发生，比如暗电流和缺陷的光电二极管。缺陷像素的输出电平高于正常像素的输出电平的缺陷称为“白缺陷”，而缺陷像素的输出电平低于正常像素的输出电平的缺陷称为“黑缺陷”。

在检测和补偿这样的像素缺陷，特别是白缺陷的方法中，将光线屏蔽的和输出电平超过预定值的像素检测出来，并且将其位置存储在存储器件中(比如随机存取存储器(RAM)或只读存储器(ROM))。当对目标成像时，从存储器件中读出白缺陷的位置。用其周围像素对缺陷像素进行内插。当光屏蔽正常像素时，其输出电平是理想的0。使用正常像素和缺陷像素的特征差别，缺陷像素的输出电平不是0，可以检测和补偿缺陷像素。在下面的专利文献1和专利文献2中提出了这种方法

【专利文献1】

日本专利No.2,565,264(日本专利公开No.HEI 1-105672)

【专利文献2】

日本专利No.2,808,814(日本专利早期公开No.HEI 3-296375)

在这种情况下，检测缺陷像素就是将缺陷像素识别为缺陷像素。在另一方面，补偿缺陷像素就是补偿通过图像处理检测的缺陷像素的输出信号，从而缺陷像素的输出信号变得接近于其期望的输出信号。

作为白缺陷的缺陷像素的信号电平随在像素曝光直到信号从其读出之后的时间(在后面称这个时间为曝光-读出时间)而变化。像素的信号电平与曝光-读出时间成比例。当曝光-读出时间短时，白缺陷并不产生妨碍。相反地，当曝光-读出时间长时，白缺陷变得产生妨碍。

但是，在前述的现有技术的缺陷检测方法中，将输出信号电平比预定值大的像素检测为缺陷像素。这样，在所有被检测的像素中(也就是在一个屏幕上的各个像素)，它们的曝光-读出时间必须相同。换言之，如上所述，作为白缺陷的缺陷像素的信号电平随着它们曝光-读出时间变长而增加。

比如，当处于屏幕下部的像素的曝光-读出时间长，而处于屏幕上部的像素的曝光-读出时间短时，处于屏幕下部的白缺陷的信号电平比处于屏幕上部的那些高。在这点上，如果用预定的阈值检测缺陷像素，即使作为白缺陷的缺陷像素在屏幕的上部和下部几乎均等地分布，从屏幕下部检测出来的缺陷像素比从屏幕上部的多。这样，就不能适当地检测缺陷像素。

发明内容

如前所述，最好能提供一种成像装置和成像方法，其中成像装置使用第一中读出方法(该方法中每一个像素的曝光-读出时间相同)和第二种读出方法(该方法中对每一个像素组的曝光-读出时间都不同)，该成像装置对于第一种和第二种读出方法有不同的白缺陷判定电平，并且适当地补偿在第一种和第二种读出方法中的缺陷。

而且最好能够提供一种成像装置和成像方法，其中成像装置使用第一种读出方法和第二种读出方法，存储缺陷像素的信号电平，并且用一种读出方法中的一个缺陷检测操作，来补偿至少在两种读出方法中的缺陷像素。

最好还能够提供一种成像装置和成像方法，其中成像装置使用第一种读出方法和第二种读出方法，并且用一种读出方法中的一个缺陷检测操作，来补偿至少在两中读出方法中的缺陷像素，而且不用存储缺陷像素的信号电平。