[发明专利]集成电路设计中计算由于两个相邻网络之间耦合事件而产生的延迟的统计变化的方法和系统

权利要求书

1.一种计算由于集成电路设计中两个相邻网络之间的耦合事件而产生的延迟的统计变化的方法，包括：

执行集成电路设计的统计时序分析；

计算相邻网络之间的统计重叠窗口，其中所述统计时序窗口表示所述相邻网络上的信号在其间能够同时切换的时间段；和

根据所述统计重叠窗口，计算由于耦合事件所产生的延迟的统计变化。

2.根据权利要求1的方法，其中计算延迟的统计变化的步骤包括：

计算统计密勒因子，以表示电容耦合对延迟的影响；

计算延迟的变化对密勒因子的灵敏度；

计算密勒因子对集成电路设计的过程参数的灵敏度；和

链式保持延迟变化的灵敏度和密勒因子的灵敏度，以获得由于耦合事件所产生的延迟的统计变化。

3.根据权利要求2的方法，还包括：

计算由于耦合事件所产生的延迟的单独的上升和下降统计变化。

4.根据权利要求2的方法，其中根据动态噪声模拟技术计算密勒因子。

5.根据权利要求2的方法，其中利用确定性时序计算延迟对密勒因子的灵敏度。

6.根据权利要求2的方法，其中利用确定性时序计算密勒因子。

7.根据权利要求1的方法，还包括：

通过集成电路设计的时序图，传播所计算的延迟的统计变化。

8.根据权利要求1的方法，还包括：

利用延迟的统计变化作为输入来重复统计时序分析；和

根据重复的统计时序分析，重复延迟的统计变化的计算。

9.根据权利要求1的方法，其中集成电路设计是组合集成电路设计。

10.根据权利要求1的方法，其中集成电路设计是顺序集成电路设计。

11.根据权利要求1的方法，还包括：

计算由于耦合事件所产生的转换的统计变化。

12.根据权利要求11的方法，还包括：

计算统计的密勒因子，以表示电容耦合对转换的影响；

计算转换的变化对密勒因子的灵敏度；

计算密勒因子对集成电路的过程参数的灵敏度；和

链式保持转换变化的灵敏度和密勒因子的灵敏度，以获得由于所述耦合事件所产生的转换的统计变化。

13.根据权利要求12的方法，还包括：

计算由于耦合事件所产生的转换的单独的早期和晚期的统计变化。

14.根据权利要求12的方法，其中利用确定性时序计算转换对密勒因子的灵敏度。

15.根据权利要求11的方法，还包括：

通过集成电路的时序图，传播所计算的转换的统计变化。

16.一种计算由于集成电路设计中两个相邻网络之间的耦合事件所产生的延迟和转换的统计变化的系统，包括：

用于执行权利要求1-15中任一项所述方法的步骤的单元。