[发明专利]电平转换电路无效

专利信息
申请号: 200810003062.2 申请日: 2008-01-18
公开(公告)号: CN101388662A 公开(公告)日: 2009-03-18
发明(设计)人: 林育信;廖学坤 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: H03K19/0185 分类号: H03K19/0185
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电平 转换 电路
【权利要求书】:

1.一种电平转换电路,其特征在于,所述电平转换电路包含:

反相器,其输入端连接输入电压,用来输出反相输入电压,其中所述输入电压的范围介于低供应电压和零电平之间;

第一NMOS晶体管,其栅极连接所述输入电压,源极接地;

第一厚氧化层NMOS晶体管,其栅极连接第一参考电压,源极耦接所述第一NMOS晶体管的漏极;

第二NMOS晶体管,其栅极连接所述反相输入电压,源极接地;

第二厚氧化层NMOS晶体管,其栅极连接所述第一参考电压,源极耦接所述第二NMOS晶体管的漏极,其中所述第二厚氧化层NMOS晶体管的漏极输出输出电压,所述输出电压的范围介于高供应电压和零电平之间;

第一厚氧化层PMOS晶体管,其栅极连接所述第二厚氧化层NMOS晶体管的漏极,源极连接所述第一厚氧化层NMOS晶体管的漏极;

第二厚氧化层PMOS晶体管,其栅极连接所述第一厚氧化层NMOS晶体管的漏极,源极连接所述第二厚氧化层NMOS晶体管的漏极;

第三厚氧化层PMOS晶体管,其栅极连接所述输入电压,源极连接所述第一厚氧化层PMOS晶体管的漏极,漏极连接所述高供应电压;以及

第四厚氧化层PMOS晶体管,其栅极连接所述反相输入电压,源极连接所述第二厚氧化层PMOS晶体管的漏极,漏极连接所述高供应电压。

2.如权利要求1所述的电平转换电路,其特征在于,所述第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管是薄氧化层NMOS晶体管。

3.如权利要求1所述的电平转换电路,其特征在于,所述电平转换电路进一步包含:

第三NMOS晶体管,其栅极连接至第二参考电压,源极连接至所述第一NMOS晶体管的漏极,漏极连接至所述第一厚氧化层NMOS晶体管的源极;以及

第四NMOS晶体管,其栅极连接至所述第二参考电压,源极连接至所述第二NMOS晶体管的漏极,漏极连接至所述第二厚氧化层NMOS晶体管的源极。

4.如权利要求3所述的电平转换电路,其特征在于,所述第三NMOS晶体管和第四NMOS晶体管是薄氧化层NMOS晶体管。

5.如权利要求1所述的电平转换电路,其特征在于,所述输入电压的范围介于0.5伏特至2.5伏特之间。

6.如权利要求1所述的电平转换电路,其特征在于,所述输出电压的范围介于3伏特至10伏特之间。

7.一种电平转换电路,其特征在于,所述电平转换电路包含:

反相器,其输入端连接输入电压,用来输出反相输入电压,其中所述输入电压的范围介于低供应电压和零电平之间;

第一NMOS晶体管,其栅极连接所述输入电压,源极接地;

第一厚氧化层NMOS晶体管,其栅极连接所述输入电压,源极耦接所述第一NMOS晶体管的漏极;

第二NMOS晶体管,其栅极连接所述反相输入电压,源极接地;

第二厚氧化层NMOS晶体管,其栅极连接所述反相输入电压,源极耦接所述第二NMOS晶体管的漏极,其中所述第二厚氧化层NMOS晶体管的漏极输出输出电压,所述输出电压的范围介于高供应电压和零电平之间;

第一厚氧化层PMOS晶体管,其栅极连接所述第二厚氧化层NMOS晶体管的漏极,源极连接所述第一厚氧化层NMOS晶体管的漏极;

第二厚氧化层PMOS晶体管,其栅极连接所述第一厚氧化层NMOS晶体管的漏极,源极连接所述第二厚氧化层NMOS晶体管的漏极;

第三厚氧化层PMOS晶体管,其栅极连接所述输入电压,源极连接所述第一厚氧化层PMOS晶体管的漏极,漏极连接所述高供应电压;以及

第四厚氧化层PMOS晶体管,栅极连接所述反相输入电压,源极连接所述第二厚氧化层PMOS晶体管的漏极,漏极连接所述高供应电压。

8.如权利要求7所述的电平转换电路,其特征在于:

所述第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管是薄氧化层NMOS晶体管;以及

所述第一厚氧化层NMOS晶体管和第二厚氧化层晶体管是耗尽型NMOS晶体管,具有不大于零的临界电压值。

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