[发明专利]磁头特性评估方法

权利要求书

1.一种磁头特性评估方法，该方法包括以下步骤：

在存储装置中存储测量数据，该测量数据是通过测量设备测量的所述磁头的指定特性；

基于所述测量数据检测所述测量设备是否发生故障；以及

在所述检测步骤中未检测到所述测量设备的故障时评估所述磁头的特性。

2.根据权利要求1所述的方法，其中：

多次向所述磁头施加在上限值和下限值之间连续变化的磁场，通过所述测量设备测量所述磁头的读出元件的输出值，作为所述测量数据，并且在所述存储步骤中将所述测量数据存储在所述存储装置中，以及

在所述检测步骤中，基于由多次的所述测量数据求出的输出范围变化检测所述测量设备的故障，其中各个所述输出范围被定义为施加所述上限值的磁场时测量到的读出元件的输出值与施加所述下限值的磁场时测量到的读出元件的输出值之差。

3.根据权利要求2所述的方法，其中：

向所述磁头施加在所述上限值和所述下限值之间连续变化的磁场，通过所述测量设备测量所述磁头的读出元件的输出值，作为所述测量数据，并且在所述存储步骤中将所述测量数据存储在所述存储装置中，以及

在所述检测步骤中，基于线性式的截距的变化检测所述测量设备的故障，其中各个所述线性式被定义为表示在将所述上限值和所述下限值之间的数值范围按规定的间隔划分而成的各个数据区域中、由所述测量数据表示的磁场变化与所述读出元件的输出值变化之间的关系的线性式。

4.根据权利要求2所述的方法，其中：

多次向所述磁头施加在所述上限值和所述下限值之间连续变化的磁场，通过所述测量设备测量所述磁头的读出元件的输出值，作为所述测量数据，并且在所述存储步骤中将所述测量数据存储在所述存储装置中，以及

在所述检测步骤中，基于由多次的所述测量数据求出的所述读出元件的输出值的变化，检测所述测量设备的故障。

5.根据权利要求2所述的方法，其中：

在所述检测步骤中，不仅基于所述变化而且基于所述测量数据中包含的巴克豪森跳跃的度量来确定所述测量设备的故障。

6.根据权利要求3所述的方法，其中：

在所述检测步骤中，不仅基于所述变化而且基于所述测量数据中包含的巴克豪森跳跃的度量来检测所述测量设备的故障。

7.根据权利要求4所述的方法，其中：

在所述检测步骤中，不仅基于所述变化而且基于所述测量数据中包含的巴克豪森跳跃的度量来检测所述测量设备的故障。