[发明专利]一种对被测试器件进行故障检测的方法、系统及装置无效
| 申请号： | 200810006837.1 | 申请日： | 2008-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN101470169A | 公开（公告）日： | 2009-07-01 |
| 发明（设计）人： | 高岩 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京挺立专利事务所 | 代理人： | 皋吉甫 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 器件 进行 故障 检测 方法 系统 装置 | ||
1.一种对被测试器件进行故障检测的方法，其特征在于，包括：
建立任一被测试器件与JTAG测试总线的测试链路，包括：JTAG控制器 控制时钟控制器选通被测试器件，所述JTAG控制器与时钟控制器、以及所述 被测试器件联立建立点对点驱动，建立任一被测试器件与JTAG测试总线的测 试链路、输出时钟；
对所述被测试器件进行测试，如果返回JTAG控制器的数据异常或接收不 到返回数据，定位所述被测试器件出现故障。
2.如权利要求1所述的对被测试器件进行故障检测的方法，其特征在于， 所述定位所述被测试器件出现故障具体包括：
所述被测试器件内部逻辑混乱，和/或所述被测试器件的数据输出线TDO 开路。
3.如权利要求1所述的对被测试器件进行故障检测的方法，其特征在于， 所述被测试器件通过并联的方式连接在JTAG测试总线上。
4.如权利要求1所述的对被测试器件进行故障检测的方法，其特征在于， 还包括：所述时钟控制器通过可编程逻辑分析对所述JTAG测试总线进行时序 分析。
5.一种时钟控制器，其特征在于，包括：受控单元、链路建立单元、以 及时钟输出单元；其中，所述受控单元，用于接收所述JTAG控制器的控制信 令；所述链路建立单元：用于根据所述受控单元指示建立任一被测试器件与 JTAG测试总线的测试链路；所述时钟输出单元：用于在所述链路建立单元建 立测试链路之后送出时钟。
6.如权利要求5所述的时钟控制器，其特征在于，还包括时延计算单元， 用于通过可编程逻辑分析对所述JTAG测试总线进行时序分析。
7.一种对被测试器件进行故障检测的系统，其特征在于，包括：被测试 器件、JTAG控制器、以及时钟控制器；其中，
所述被测试器件：用于以并联的方式连接JTAG测试总线上进行测试；
所述时钟控制器：用于建立任一被测试器件与JTAG测试总线的测试链 路，包括：JTAG控制器控制时钟控制器选通被测试器件，所述JTAG控制器 与时钟控制器、以及所述被测试器件联立建立点对点驱动，建立任一被测试 器件与JTAG测试总线的测试链路、输出时钟；
所述JTAG控制器：用于对所述被测试器件进行测试时，如果返回的数据 异常或接收不到返回数据，定位所述被测试器件出现故障。
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