[发明专利]微型芯片检查系统、检查装置和计算机能读入的媒体无效

专利信息
申请号: 200810008553.6 申请日: 2008-01-23
公开(公告)号: CN101271069A 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 泽住庸生;中岛彰久;山东康博 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达医疗印刷器材株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N35/08;G01N33/50;C12Q1/68
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 魏晓刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 微型 芯片 检查 系统 装置 计算 机能 读入 媒体
【权利要求书】:

1、一种微型芯片检查系统,其特征在于,包括:

a、微型芯片,其至少含有目标物质和与所述目标物质特异结合而进行荧光标识的试剂,并使所述目标物质与所述试剂进行反应而在被检测部检测荧光强度;

b、微型芯片收容部,其能收容所述微型芯片;

c、光检测部,其与所述微型芯片收容部所收容的微型芯片被检测部对应设置,且具有向所述被检测部照射激励光的发光部和接受来自所述被检测部荧光的受光部;

d、反应开始机构,其使所述反应开始;

e、控制部,其控制所述反应开始机构的反应开始时刻以及所述光检测部在反应前和反应后荧光强度的检测时刻,

所述控制部使所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻与所述反应开始机构的所述反应开始时刻相对应。

2、如权利要求1所述的微型芯片检查系统,其特征在于,所述反应开始机构是对所述微型芯片收容部收容的微型芯片进行加热的加热机构,所述控制部使所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻与所述加热机构的加热开始时刻相对应。

3、如权利要求2所述的微型芯片检查系统,其特征在于,在从所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻开始的规定时间后,所述控制部使所述加热机构的加热开始。

4、如权利要求2所述的微型芯片检查系统,其特征在于,与所述加热机构的加热开始时刻同时地,或在从该加热开始时刻开始的规定时间后,所述控制部来进行所述光检测部的反应前荧光强度的检测。

5、如权利要求1所述的微型芯片检查系统,其特征在于,所述反应开始机构是把所述微型芯片内的所述目标物质或所述试剂进行送液的送液机构,所述控制部使所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻与所述送液机构的使所述目标物质与所述试剂的混合完成的混合完成时刻相对应。

6、如权利要求5所述的微型芯片检查系统,其特征在于,与所述目标物质和所述试剂的混合完成的混合完成时刻同时地,或在从该混合完成时刻开始的规定时间后,所述控制部来进行所述光检测部的反应前荧光强度的检测。

7、如权利要求5或6所述的微型芯片检查系统,其特征在于,所述混合完成时刻是所述送液机构把所述目标物质或所述试剂向所述被检测部进行送液完成的时刻。

8、如权利要求1~7中任一项所述的微型芯片检查系统,其特征在于,所述控制部根据所述光检测部的反应前荧光强度检测值来校正所述光检测部的反应后荧光强度的检测值。

9、如权利要求1~8中任一项所述的微型芯片检查系统,其特征在于,所述目标物质是目标基因,与所述目标物质进行特异结合的被荧光标识的试剂是荧光标识的DNA探针,所述反应是通过所述目标基因与所述DNA探针的杂交而使荧光共振能迁移现象产生变化的反应。

10、一种微型芯片检查装置,其特征在于,包括:

a、微型芯片收容部,其能收容这样的微型芯片:该微型芯片至少含有目标物质和与被荧光标识的所述目标物质特异结合的试剂,并使所述目标物质与所述试剂进行反应而在被检测部检测荧光强度;

b、光检测部,其与所述微型芯片收容部所收容的微型芯片的被检测部对应设置,且具有向所述被检测部照射激励光的发光部和接受来自所述被检测部荧光的受光部;

c、反应开始机构,其使所述反应开始;

d、控制部,其控制所述反应开始机构的反应开始时刻以及所述光检测部在反应前和反应后荧光强度的检测时刻,

所述控制部使所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻与所述反应开始机构的所述反应开始时刻相对应。

11、一种存储程序的存储媒体,所述程序使以下的步骤在计算机中运行,其特征在于,该步骤包括:

a、至少把目标物质和与被荧光标识的所述目标物质进行特异结合的试剂收容在被微型芯片收容部收容的微型芯片被检测部中的步骤;

b、通过反应开始机构使所述目标物质与所述试剂开始反应的步骤;

c、光检测部进行反应前荧光强度检测的步骤;

d、光检测部进行反应后荧光强度检测的步骤,

使所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻与所述反应开始机构的反应开始时刻相对应。

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