[发明专利]微型芯片检查系统、检查装置和计算机能读入的媒体无效

专利信息
申请号: 200810008553.6 申请日: 2008-01-23
公开(公告)号: CN101271069A 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 泽住庸生;中岛彰久;山东康博 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达医疗印刷器材株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N35/08;G01N33/50;C12Q1/68
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 魏晓刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 微型 芯片 检查 系统 装置 计算 机能 读入 媒体
【说明书】:

技术领域

发明涉及微型芯片检查系统、微型芯片检查装置和程序。

背景技术

近年来,在集成加工有微细流路的微型芯片上把多种溶液混合反应,检测该反应的状态并进行分析的微型综合分析系统(Micro TotalAnalysis System:μTAS)被关注。

μTAS有试样的量少、反应时间短和废弃物少等优点。在医疗领域使用时由减少检体(血液、尿、擦拭液等)的量而能减轻患者的负担,由减少试剂的量而能降低检查成本。且由于检体和试剂的量少,所以反应时间被大幅度缩短,能谋求检查的高效率。且由于装置是小型的,所以小的医疗机构也能设置,能不选择场所地迅速进行检查。

微型芯片检查系统通过从微型泵等向微型芯片供给驱动液而使微型芯片内收容的检体和试剂沿流路进行送液。这样,检体和试剂在流路内被混合并产生反应。反应液被向微型芯片内的被检测部送液,在被检测部进行反应液内目标物质浓度等的检测。

例如国际公开第2005-108571号中记载有使用集成加工微细流路的微型芯片来检测目标基因的例子。首先在微型芯片的被检测部把捕获目标基因的物质预先固定化。然后使目标基因放大用试剂与检体反应来生成放大产物。这样,只要检体中含有目标基因,则放大产物内就存在被放大的目标基因。接着,使被放大的目标基因变性成单链。通过把检体向被检测部供给而使被检测部中被固定化的捕获目标基因的物质来捕获目标基因。然后把与该单链目标基因杂交的DNA探针向被检测部供给,利用杂交反应使目标基因与DNA探针结合。DNA探针被预先进行了荧光标识。然后把与结合有被捕获目标基因的DNA探针结合的金胶质液向被检测部供给,使金胶质与DNA探针结合。然后向被检测部供给洗净液以把未结合的金胶质从被检测部除去。通过光学检测被检测部中金胶质的浓度来进行目标基因的检测。

日本特开2001-255328号公报中记载:在生物芯片内目标基因的检测中,向由荧光标识的目标基因与DNA探针杂交的处理液照射激励光,检测从处理液发出的荧光的荧光强度。

日本特表2003-517591号公报中记载:作为能高灵敏度进行目标基因检测的技术有循环探测法。该方法是:通过把目标基因作为铸模并循环地反复进行DNA探针与目标基因的杂交、游离,而对于少数的目标基因能生成多个荧光标识。

循环探测法通过利用荧光共振能移动的荧光色素而把DNA探针进行标识化。该DNA探针在通常状态下是以供体即荧光物质和受体即猝光物成对地存在,即使照射激励光,也由于从荧光物质发出的荧光被猝光物吸收而不发生供体的荧光。该DNA探针在与目标基因产生杂交反应的状态下,荧光物质与猝光物的结合被切断,荧光物质的荧光则能向外部发出。当荧光物质与猝光物的结合被切断,该DNA探针从目标基因游离。变为自由的目标基因与通常状态的DNA探针再次进行杂交反应而结合。这样,通过反复进行杂交反应则猝光物被切断的DNA探针被放大,随着反应的进行而能得到强的荧光强度。

在如日本特开2001-255328号公报那样利用荧光强度进行检测时,为了进行高精度检测,则需要测定杂交反应前的荧光强度来校正反应后的荧光强度。

特别是使用循环探测法时,在杂交反应前,来自荧光物质的荧光应该被猝光物所吸收,但现实情况是来自没被猝光物吸收的荧光物质的荧光呈现出微弱的荧光。因此,测定反应前的荧光强度来校正反应后的荧光强度具有很大的意义。

发明内容

本发明是根据这种要求而开发的,目的在于提供一种正确测定反应前后的荧光强度变化部分,而能进行高精度检测的微型芯片检查系统、微型芯片检查装置和程序。

本发明的一个方面是微型芯片检查系统,包括:微型芯片,其至少含有目标物质和与所述目标物质特异结合而进行荧光标识的试剂,并使所述目标物质与所述试剂进行反应而在被检测部检测荧光强度;微型芯片收容部,其能收容所述微型芯片;光检测部,其与所述微型芯片收容部所收容的微型芯片被检测部对应设置,且具有向所述被检测部照射激励光的发光部和接受来自所述被检测部荧光的受光部,其中,该检查系统具有:使所述反应开始的反应开始机构、控制所述反应开始机构的反应开始时刻以及所述光检测部在反应前和反应后荧光强度的检测时刻的控制部,所述控制部使所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻与所述反应开始机构的所述反应开始时刻相对应。

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