[发明专利]光电转换器件及其制造方法有效
申请号: | 200810008797.4 | 申请日: | 2004-05-28 |
公开(公告)号: | CN101290942A | 公开(公告)日: | 2008-10-22 |
发明(设计)人: | 桥本荣 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/82 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 转换 器件 及其 制造 方法 | ||
本申请是申请号为200410047278.0、申请日为2004年5月28日、发明名称为“光电转换器件及其制造方法”的专利申请的分案申请。
本发明涉及光电转换器件及其制造方法,用于图像输入装置,例如数码相机、摄像机和读图机。
近年来,光电转换器件已经结合在图像输入装置,例如数码相机、摄像机和读图机中。这些光电转换器件例如包括CCD图像传感器和非CCD图像传感器,例如双极晶体管图像传感器、场效应晶体管图像传感器和CMOS图像传感器。在这些光电转换器件中,光图像信息转换成电信号,在用各种信号工艺处理以后,显示在显示设备中或记录在记录介质中。
为了得到高性能的光电转换器件,光电转换部件的光接收表面的区域(像素区),即实际进行光电转换的光接收部分的区域应该减少,以增加光电转换部件的数目,另外光电转换器件的芯片大小也得以减小。
随着更高像素密度和芯片大小的减小的发展,因为光接收表面区域减小,每个光电转换部件所接收的形成像素的光量减少,因此器件的灵敏度会降级。为了抑制灵敏度的降低,公知有一项技术在光接收表面的保护薄膜的平面上形成微型透镜,以便在上面集中光线。
例如,在日本专利10-107238中,公开了一种固态图像传感设备的制造方法,其中披露了用深蚀刻技术形成芯片上的透镜。在这个固态图像传感设备的制造方法中,如图10A和10B所示,首先,在传感器部分101和衬垫部分102上形成平面薄膜104,在传感器部分101 和衬垫部分102的上方形成滤色片103,两者之间是平面薄膜104。随后,在应用透镜材料105以后,通过光刻和热处理步骤形成透镜图案106。然后,整个表面被深蚀刻107,由此形成芯片上的透镜108,如图10B所示。
利用上述的方法,芯片上透镜108的形成和衬垫部分102上方的开口的形成可以同时进行。另外,当芯片上透镜108蚀刻所去掉的量与衬垫部分102上面开口蚀刻所去掉的量的差别减少时,可以降低对衬垫部分102的破坏。
伴随着更高像素密度和芯片大小的进一步减小的趋势,越来越需要提供夹层透镜,该夹层透镜由折射率不同于相邻层的薄膜形成。例如,在日本专利2001-94086中,公开了一种光电转换器件,其中披露了即使当更精细地形成光接收表面和/或在光接收表面上面形成大量的各种薄膜(,例如光屏蔽图案和导线图案)时,也能改进聚光效率。
如图11所示,该光电转换器件具有在部件隔离区202上的第一导线图案203,该第一导线图案具有设置在位于相邻光电转换部件201之间的部件隔离区202上方的导线;覆盖第一导线图案203的第一绝缘薄膜204;在第一绝缘薄膜204上的第二导线图案205,该第二导线图案具有设置在部件隔离区202上方的导线;覆盖第二导线图案205的第二绝缘薄膜206;在第二绝缘薄膜206上的微型透镜207。以两步骤实施绝缘薄膜204和206。首先在导线图案(分别为203、205)上施加预定厚度的层,以便在导线之间的区域(即光电转换器件201上方的区域)形成凹入部位。然后施加额外的层,并使其上表面平面化,以便在微型透镜207和对应光电转换器件201的光接受表面之间的光路径内形成第一和第二夹层透镜208和209。由此由导线图案203和205提供的步骤和结构至少部分地确定了第一和第二夹层透镜208和209的形状。
根据日本专利11-040787,在光电转换器件中,它具有用于转移经光电转换后的电荷的电荷转移部分,和在电荷转移部分的上面的转移电极,它们之间具有绝缘薄膜,所公开的结构是在平面薄膜上面形 成上凸形夹层透镜。
但是,根据图11所公开的制造方法,在绝缘薄膜上面形成弧形表面,该弧形表面形成夹层透镜,并限制成在图案组成部件(例如203)的上面有“山峰”和它们之间有“山谷”。因此夹层透镜的形状依赖于图案的形状,并相应地受到限制。相应的,根据图案的形状,具有理想聚光效率的夹层透镜在一些情况下无法形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的