[发明专利]自动外观检查装置无效
申请号: | 200810009746.3 | 申请日: | 2008-02-13 |
公开(公告)号: | CN101246131A | 公开(公告)日: | 2008-08-20 |
发明(设计)人: | 河崎喜代司 | 申请(专利权)人: | 东丽工程株式会社 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 外观 检查 装置 | ||
1.一种自动外观检查装置(1),以在对象工件(K)的外观检查用的摄像之前进行自动对焦的方式构成,其特征在于,具备:保持多个物镜(11)并且选择某个物镜(11)用于检查的转换器(53);拍摄通过所选择的物镜(11)而获得的像的摄像单元(51);使位移传感器(12)在所选择的物镜(11)与对象工件(K)之间进退的位移传感器进退单元(13);预先存储对象工件(K)上的基准位置(PB)处的物镜(11)的最合适对焦位移作为基准位移(LB)的存储单元(81);以及,根据位移传感器(12)测量到的到对象工件(K)的位移(LS)和存储在存储单元(81)中的基准位移(LB),沿上下方向驱动转换器(53),以使物镜(11)为最合适对焦位移的上下方向驱动单元(6)。
2.如权利要求1所述的自动外观检查装置,其中,在对象工件(K)上形成有导电性图形(D),位移传感器(12)为电容位移传感器。
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