[发明专利]脉冲紫外荧光法测定痕量总硫的方法无效
申请号: | 200810019918.5 | 申请日: | 2008-03-14 |
公开(公告)号: | CN101532960A | 公开(公告)日: | 2009-09-16 |
发明(设计)人: | 朱明俊;潘巧英;薛元祥;陈官容 | 申请(专利权)人: | 朱明俊 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 225500江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 脉冲 紫外 荧光 测定 痕量 方法 | ||
1、一种脉冲紫外荧光法测定痕量总硫的方法,采用检测器测量由紫外光源照射试样经燃烧后生成的二氧化硫激发所发射的荧光,进而算出硫含量,其特征是所述紫外光源为脉冲紫外光源,周期性间断式发出紫外光,每一周期中,紫外光照射二氧化硫的时间为0.8~1.2秒,停止照射的时间为4~6毫秒,紫外光波长为190~230nm。
2、按权利要求1所述的脉冲紫外荧光法测定痕量总硫的方法,其特征在于:所述脉冲紫外光源中,利用匀速或周期性运动的遮光板交替式遮挡或透过紫外光。
3、按权利要求2所述的脉冲紫外荧光法测定痕量总硫的方法,其特征在于:所述遮光板为遮光叶片,在电机带动下作匀速转动。
4、按权利要求2所述的脉冲紫外荧光法测定痕量总硫的方法,其特征在于:所述遮光板为两块平行设置的光栅板,两块光栅板上的光缝宽窄一致,间距相同,其中一块光栅板固定不动,另一块受电磁铁控制作周期性往复平行移动。
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