[发明专利]一种新型的单面去扩散层方法无效

专利信息
申请号: 200810032536.6 申请日: 2008-01-10
公开(公告)号: CN101217173A 公开(公告)日: 2008-07-09
发明(设计)人: 胡宏勋;徐晓群;孙励斌;李华维;陈斌;黄跃文;唐则祁 申请(专利权)人: 宁波杉杉尤利卡太阳能科技发展有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 上海东亚专利商标代理有限公司 代理人: 罗习群
地址: 315177浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 单面 扩散 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种新型铝背发射结N型单晶硅太阳电池结构及其制备方法,特别是关于一种保护正面,去除背面扩散层的方法。

背景技术

目前国际上通行的是在P型硅片上以丝网印刷方法制造硅太阳能电池,这种方法目前已趋于稳定,但进一步提高性价比的空间非常有限。

目前N型硅太阳电池,国际上的成熟工艺主要是采用硼扩散来制备背面P型发射结,但为了进一步提高光电转换效率,在此基础上增加了一道工艺,形成N+/N顶表面场(FSF)。但是即使是背靠背扩散,背面边缘部分依然会有N型扩散层,这将会大大降低光电转换效率,所以必须将背面的N型扩散层去除,现有的保护正面N型扩散层的办法主要有黑胶保护等,但是这些方法程序复杂,不利于规模化生产。

发明内容:

本发明的目的是弥补现有技术存在的缺陷,提供一种简易的保护正面N型扩散层,去除背面N型扩散层的方法,该方法能提高N型太阳能电池的转换效率。

本发明的目的还在于,简化去背N型扩散层工艺,提高效率,提高产能。

本发明是一种新型的单面去扩散层方法,其步骤是:

(1)将电阻率0.5~6Ω.cm的单晶硅片进行前道化学预清洗和绒面腐蚀;

(2)在N型单晶硅片的正面,磷扩散N+层;

(3)等离子刻蚀;

(4)去除磷硅玻璃;

(5)在N型单晶硅片的正面,PECVD沉积氮化硅膜;

(6)去除硅片背面磷扩散层;

(7)去除正面氮化硅薄膜。

本发明的优点是,能明显提高N型单晶硅太阳电池的转换效率,除低成本,操作方便以并适宜于大规模生产;特别是简化了去背N型扩散层工艺,大大提高了生产效率。

具体实施方式

本发明的工艺步骤是:

(1)前道化学预清洗,绒面腐蚀工艺:

将电阻率0.5~6Ω.cm的单晶硅片在0.5%-5%的Na2SiO3溶液中,进行超声预清洗5~30min,再用纯水漂洗,然后用加热的NaOH或KOH溶液去除表面损伤层,用0.5%~5%的NaOH或KOH溶液进行绒面腐蚀,稀盐酸浸泡后,用去离子水漂洗、烘干。

(2)磷扩散工艺:

N+层采用常规的气相携带POCl3热扩散,扩散时硅片背对背在石英舟里放置,温度800~950℃,薄层电阻控制在20~60Ω/平方厘米。

(3)等离子刻蚀工艺:

在等离子刻蚀机里利用氟离子刻蚀掉扩散片的边缘扩散层,边缘电阻≥30kΩ。

(4)去除磷硅玻璃:

用1~5%的氢氟酸溶液浸泡5min,去除表面磷硅玻璃,再漂洗,烘干。

(5)PECVD沉积氮化硅膜工艺:

等离子体增强化学气相沉积PECVD工艺,在扩散正面上,沉积氮化硅薄膜,这层膜具有耐碱性。

(6)去除硅片背面磷扩散层:

在10~20%的NaOH或KOH溶液中浸泡10~60s,去除背面的磷扩散层,正面有氮化硅薄膜保护了正面N+磷扩散层。

(7)去除正面氮化硅薄膜:

用0.5~5%的氢氟酸溶液浸泡5min,去除正面氮化硅薄膜,再漂洗,烘干。

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