[发明专利]多芯片LED的封装结构无效
申请号: | 200810039728.X | 申请日: | 2008-06-27 |
公开(公告)号: | CN101615612A | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
发明(设计)人: | 刘红超 | 申请(专利权)人: | 刘红超 |
主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L23/36;H01L23/367;H01L23/373;H01L21/50;H01L33/00 |
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地址: | 200336上海市长*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 led 封装 结构 | ||
技术领域
本发明涉及半导体照明技术,具体涉及发光二极管为主要器件的封装制造方法,特别是提高散热和其抗瞬态电压冲击能力的封装方法,适用于发光二极管和类似的半导体器件。
技术背景
LED是采用半导体PN结作为发光源的,其禁带宽度的能量对应于一定波长光,即电子与空穴符合后,多于的能量以光子形式辐射。LED因为其节能,环保,体积小,使用灵活,可靠性高,寿命长而成为第四代光源。目前在LCD屏幕背光,交通信号灯,外墙装饰,医疗,灯饰,大屏幕显示,车灯等得到广泛的应用。据我国政府估算,如果全国1/3的白炽灯被LED所取代,每年节约的电力1000亿度,这相当于一个三峡电站每年发电量.各国都将其作为下一代节能绿色电源在重点扶持。
当前LED应用的一个主要问题是热问题。LED照明应用要求其功率越来越高,单个LED从开始的几十毫瓦,到现在的近10瓦。但是随着功率的不断提高,工作时温度变高了,LED变得更加热了。LEDPN结中电子空穴复合,多于的能量以光子形式发出,这个过程并不产生热量。但外加电能的条件下,这些复合并不都是以光子的形式发出,电子空穴复合以及迁移运动中的碰撞还会以声子(phonon)发出。这些声子在微观上表现为晶格的振动,宏观参数就是热温度。再加上发出的光并不能100%被导出,这一部分光也会变成热量。实际上,输入的电功率仅不到30%被转化为光,其余70%以上变成热。这些的热量如果不及时导出,将会严重影响LED PN结的工作,使LED输出的光变少,光的波长发生偏移,严重的会影响LED的可靠性和寿命。现有的芯片封装都是基于集成电路封装技术,虽然对散热给与了很多的考虑,但毕竟集成电路封装中发热不是最主要的考虑因素。后来又有很多改善LED散热的方法,比如在封装好的LED外加热沉的方法,进行两级封装等,工艺复杂,成本高。同时这些方法中并没有很好地解决芯片和支架间,支架和电路板之间,电路板和外基板之间,外基板和外热沉之间存在的热阻。任何一个环节热量如得不到及时散出,都会使LED芯片温度升高,影响其性能。
影响LED使用的另一个因素是LED芯片抗瞬态电冲击能力弱。随着LED工作电压与越来越低,如用于白光LED的GaN芯片从原来的接近4V到现在的3.3V,其抗静电能力越来越弱,这类芯片属静电敏感器件。因此,在其生产和使用过程中,如果没有良好的静电防护措施或者防护措施不当,都可能造成LED芯片的不可修复性损坏。LED在使用过程中,还可能受到来自电源等浪涌电流的冲击,如在在室外使用时,还会将雷电导入。这些瞬间能放出上十瓦级能量电信号,会造成LED的损毁,影响其可靠性和寿命。因此,如何提高LED芯片在生产及使用中的抗瞬态电信号的冲击能力,也是本发明的目的之一。
发明内容
本发明的目的是设计一种工艺简单,封装成本低,具有较高散热能力的,抗瞬态电冲击能力强的多芯片LED封装的制造方法。本发明设计的多芯片封装方法具有较高抗瞬态电冲击能力,可灵活进行并联或串联以及矩阵方式的多芯片LED封装,从而满足不同LED驱动电源的需求。
为达到上述目的,本发明LED封装主要包括:基板10,支架20,瞬态电压保护(transient voltage suppressor,TVS)芯片30,至少一个LED芯片40,至少两连接线50,以及封包连接芯片,连接线支架和基板的胶体60。
基板10为双层,下层11为良好散热的导电体,上层12为良好散热的绝缘体。基板绝缘表面为光滑表面,以提高LED杂散光的反射,使得LED发出的光得到充分利用。其厚度以能耐一定的电压为宜。为了使胶体和基板之间有良好的附着性,提高器件气密性和可靠性,基板可以预留一定的沟槽。
支架20为良好导热导电的材料,制成预设好的形状。这些形状要考虑:芯片的承载,芯片间的连接方式,包括但不限于并联和串联以及串并混合方式,以及材料物理上与芯片和连接线的良好结合性。它是LED芯片和TVS芯片的承载体。支架可以预置在基板上。对于一些高功率LED,优选预置在基板上支架,以便瞬态电压保护芯片和LED芯片直接安装在基板上,减少LED芯片和基板间的热阻。
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