[发明专利]一种高稳晶振的自动化测试方法和装置有效
申请号: | 200810065632.0 | 申请日: | 2008-01-21 |
公开(公告)号: | CN101231321A | 公开(公告)日: | 2008-07-30 |
发明(设计)人: | 傅小明;李宗安;刘学军;陈海林 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/28 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所 | 代理人: | 王永文 |
地址: | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高稳晶振 自动化 测试 方法 装置 | ||
1.一种高稳晶振的自动化测试装置,其特征在于,包括设置在印制电路板上的中央处理器、可编程逻辑器件、一个或多个数模转换器,一个外部标准参考信号;
每个高稳晶振和所述中央处理器、所述可编程逻辑器件以及所述数模转换器构成一环路,用于计算需要测试的晶振指标,并与预先设定的晶振指标做比较,判断每一高稳晶振是否合格。
2.根据权利1所述的装置,其特征在于,所述的外部参考信号以及高稳晶振输出的信号输入至所述的可编程逻辑器件;所述的数模转换器一端与高稳晶振相连,另一端和所述中央处理器相连,中央处理器通过控制数模转换器输出的电压以控制高稳晶振输出信号的频率;所述的中央处理器和所述的可编程逻辑器件相连,用于计算高稳晶振的指标。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述中央处理器和一外部计算机相连,与外部计算机通信。
4.一种高稳晶振的自动化测试方法,其包括以下步骤:
A、选择待检测高稳晶振的规格型号,并设定该高稳晶振对应的指标;
B、中央处理器通过数模转换器控制所述高稳晶振的压控端电压,使该高稳晶振的压控端输入电压稳定在某个电压;
C、计算出需要测试的高稳晶振指标,并与预先设定的晶振指标做比较,判断该高稳晶振是否合格,将测试结果向后台计算机报告。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述步骤C还包括:
C1、所述高稳晶振输出的信号在一可编程逻辑器件中生成一第一信号,标准参考信号在可编程逻辑器件中生成一第二信号,通过计算该第一信号和该第二信号的相对相位差以计算所述高稳晶振输出信号与标准参考信号的频差。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述步骤C1还包括:C11、将所述第一信号同步于第二信号后,让该两个信号自由振荡,等待一定时间后对所述第一信号和所述第二信号鉴相,得到一鉴相值;
C12、重复上述步骤得出所述高稳晶振在不同的压控电压时对应的鉴相值。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述需要测试的高稳晶振指标包括晶振的压控范围、压控斜率、控制线性度、中心电压。
8.根据权利要求4至7任一所述的方法,其特征在于,所述步骤A中所述高稳晶振的规格型号和需要测试的晶振指标由所述外部计算机预先设定。
9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述步骤C11的鉴相过程还包括:
用一个异或门对所述第一信号和所述第二信号进行鉴相,两者电平相同时所述异或门输出一个低电平,两者电平不同时所述异或门输出一个高电平;用一个符号位表示所述第一信号超前或滞后于所述第二信号,用预定频率的时钟在所述异或门输出为高电平时计数;所述符号位和所述计数的最终值相乘得到所述鉴相值。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述步骤C还包括:从所述鉴相值中计算出当前高稳晶振输出信号的频率。
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