[发明专利]一种高稳晶振的自动化测试方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及自动化测试领域，尤其涉及一种用来实现压控高稳晶振的自动化测试方法和装置。

背景技术

现有技术中，高稳晶振包括OCXO(恒温晶体振荡器)、TCXO(温度补偿晶体振荡器)、VCXO(压控晶体振荡器)等，这些晶振输出信号的频率随着晶振压控端的电压变化而变化。

高稳晶振目前广泛应用于各类通信产品中，如锁相环电路、时钟电路等。高稳晶振的牵引范围、中心电压、压控斜率等性能指标对应用有很重要的影响，在晶振出厂时或生产应用晶振前常需要对这几个指标进行检测。

现有技术传统的测试方法通常是用频率计接到晶振的信号输出端，通过改变晶振的压控端电压来测试晶振输出信号对应的频率，然后分别计算出晶振的牵引范围、中心电压、压控斜率等指标。如图1所示为传统测试方法中的结构示意图，主要由晶振、频率计、原子钟等设备组成。传统的测试方法需要手动改变晶振的压控电压，记录晶振输出信号的频率，再与预先设定的的值比较，判断晶振是否合格。

但传统的测试方法需要频率计、原子钟等仪表进行测量和计算，测试成本较高；其次，每次只能测试一个晶振，测试效率太低，不适合批量检测；而且，需要专人记录测试结果，判断晶振是否合格，浪费人力资源，测试结果不准确，不适合批量检测。

因此，现有技术存在缺陷，而有待于改进和发展。

发明内容

本发明所要解决的问题在于提供一种快速的、能够批量测试高稳晶振指标的方法和装置，克服传统测试方法成本高，效率低的缺点，实现真正完全的自动化测试过程，以节省仪表资源，加快晶振测试速度。

为了实现这些目的，本发明的技术方案如下：

一种高稳晶振的自动化测试装置，其中，包括设置在印制电路板上的中央处理器、可编程逻辑器件、一个或多个数模转换器，一个外部标准参考信号；

每个高稳晶振和所述中央处理器、所述可编程逻辑器件以及所述数模转换器构成一环路，用于计算需要测试的晶振指标，并与预先设定的晶振指标做比较，判断每一高稳晶振是否合格。

所述的装置，其中，所述的外部参考信号以及高稳晶振输出的信号输入至所述的可编程逻辑器件；所述的数模转换器一端与高稳晶振相连，另一端和所述中央处理器相连，中央处理器通过控制数模转换器输出的电压以控制高稳晶振输出信号的频率；所述的中央处理器和所述的可编程逻辑器件相连，用于计算高稳晶振的指标。

所述的装置，其中，所述中央处理器和一外部计算机相连，与外部计算机通信。

一种高稳晶振的自动化测试方法，其包括以下步骤：

A、选择待检测高稳晶振的规格型号，并设定该高稳晶振对应的指标；

B、中央处理器通过数模转换器控制所述高稳晶振的压控端电压，使该高稳晶振的压控端输入电压稳定在某个电压；

C、计算出需要测试的高稳晶振指标，并与预先设定的晶振指标做比较，判断该高稳晶振是否合格，将测试结果向后台计算机报告。

所述的方法，其中，所述步骤C还包括：

C1、所述高稳晶振输出的信号在一可编程逻辑器件中生成一第一信号，标准参考信号在可编程逻辑器件中生成一第二信号，通过计算该第一信号和该第二信号的相对相位差以计算所述高稳晶振输出信号与标准参考信号的频差。

所述的方法，其中，所述步骤C1还包括：

C11、将所述第一信号同步于第二信号后，让该两个信号自由振荡，等待一定时间后对所述第一信号和所述第二信号鉴相，得到一鉴相值；

C12、重复上述步骤得出所述高稳晶振在不同的压控电压时对应的鉴相值。

所述的方法，其中，所述需要测试的高稳晶振指标包括晶振的压控范围、压控斜率、控制线性度、中心电压。

所述的方法，其中，所述步骤A中所述高稳晶振的规格型号和需要测试的晶振指标由所述后台计算机预先设定。

所述的方法，其中，所述步骤C11的鉴相过程还包括：

用一个异或门对所述第一信号和所述第二信号进行鉴相，两者电平相同时所述异或门输出一个低电平，两者电平不同时所述异或门输出一个高电平；用一个符号位表示所述第一信号超前或滞后于所述第二信号，用预定频率的时钟在所述异或门输出为高电平时计数；所述符号位和所述计数的最终值相乘得到所述鉴相值。

所述的方法，其中，所述步骤C还包括：从所述鉴相值中计算出当前高稳晶振输出信号的频率。

本发明所提供的一种高稳晶振的自动化测试方法和装置，与现有技术相比，由于采用了全自动的测试方法，操作更为简单，测试结果更为准确，测试速度更快。

附图说明

图1是现有技术的晶振测试的结构示意图；