[发明专利]一种键盘及键盘检测方法有效
申请号: | 200810067632.4 | 申请日: | 2008-06-03 |
公开(公告)号: | CN101599770A | 公开(公告)日: | 2009-12-09 |
发明(设计)人: | 陈耿 | 申请(专利权)人: | 深圳长城开发科技股份有限公司 |
主分类号: | H03M11/24 | 分类号: | H03M11/24;G06F3/023 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 | 代理人: | 郭伟刚 |
地址: | 518035广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 键盘 检测 方法 | ||
1.一种键盘,包括按键矩阵,其特征在于,还包括串联在所述按键矩阵 的列接口之间的列分压电阻链、串联在所述按键矩阵的行接口之间的行分压电 阻链,和用于检测分压电位的电压检测电路;
所述键盘还包括:
控制电路,用于在按键被按下之后,向所述列分压电阻链和行分压电阻链 提供电压;
模数转换电路,用于将行参考电位和被触发按键的行分压电位的比值转换 为被触发按键的列值,将列参考电位和被触发按键的列分压电位的比值转换为 被触发按键的行值;
触发按键后,所述控制电路在所述行分压电阻链两端施加电压,将所述列 分压电阻链断路,所述电压检测电路检测被触发按键的行分压电位,所述模数 转换电路将行参考电位和被触发按键的行分压电位的比值转换为被触发按键 的列值;所述控制电路在所述列分压电阻链两端施加电压,将所述行分压电阻 链断路,所述电压检测电路检测被触发按键的列分压电位,所述模数转换电路 将所述列参考电位和被触发按键的列分压电位的比值转换为被触发按键的行 值。
2.根据权利要求1所述的键盘,其特征在于,所述键盘的接口为四线接 口。
3.根据权利要求1所述的键盘,其特征在于,所述分压电阻链上的电阻 均为等值电阻。
4.根据权利要求1-3所述的键盘,其特征在于,所述行参考电位是施加 在行分压电阻链上的总电压,所述列参考电位是施加在列分压电阻链上的总电 压;或者所述行参考电位是所述行分压电阻链上各个电阻上的分压,所述列参 考电位是所述列分压电阻链上各个电阻上的分压。
5.一种键盘检测方法,其特征在于,包括:
a.在按键触发后,检测被触发按键的行分压电位和列分压电位;
b.将检测到的被触发按键的行分压电位与行参考电位进行比较以确定所 述被触发按键的列值,将检测到的被触发按键的列分压电位与列参考电位进行 比较以确定所述被触发按键的行值;
其中,所述步骤a包括:
a1触发按键后,在行分压电阻链两端施加电压,将列分压电阻链断路, 检测被触发按键的行分压电位;
a2触发按键后,在列分压电阻链两端施加电压,将行分压电阻链断路, 检测被触发按键的列分压电位;
所述步骤b包括:
b1将行参考电位和被触发按键的行分压电位的比值转换为被触发按键的 列值;
b2将列参考电位和被触发按键的列分压电位的比值转换为被触发按键的 行值。
6.根据权利要求5所述方法,其特征在于,所述行参考电位是施加在所 述行分压电阻链上的总电压,所述列参考电位是施加在所述列分压电阻链上的 总电压;或者所述行参考电位是所述行分压电阻链上各个电阻上的分压,所述 列参考电位是所述列分压电阻链上各个电阻上的分压。
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