[发明专利]一种键盘及键盘检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及信号输入装置，更具体地说，涉及一种键盘及键盘检测方法。

背景技术

传统按键矩阵具有四角形矩阵的基本结构，其电路图如图一所示，这是一 个4×7的按键矩阵的电路，其具有R1-R7的7个列的接脚和C1-C4的4个行 的接脚，共11个接脚。在正常状态下，先为列扫描，先将列接口设置为高阻 抗的高电位，而行接口设置为低阻抗的低电位，如果R1-R7上有任意一个按 键被按下，则列接口上将检测到低电位，然后系统将该数据读入保存起来，然 后扫描行，将列接口设置为低阻抗的低电位，然后将行接口设置为高阻抗的高 电位。如果C1-C4上有任意一个按键被按下，则行接口上将检测到低电位， 然后系统将这个数值保存起来，然后通过这两个数值得到按下的按键的键值。 这种键盘电路很简单，容易实现，缺点就是接脚太多。如果按键数据越多，接 脚数就越多。而且控制电路板上为了支持未来更多的按键需要预留更多的接 脚，导致了通用性和加工性能都大大降低。再有这个电路由于不具备按下检测 的能力，需要特殊的逻辑电路来实现按下检测，这样系统就必须不停的扫描从 而导致了不必要的功耗的消耗。

因此，需要一种接脚精简、功耗较低的键盘。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的键盘接脚过多的缺陷，提 供一种接脚精简的键盘。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种键盘，包括按键矩 阵，其中，还包括串联在所述按键矩阵的列接口之间的列分压电阻链、串联在 所述按键矩阵的行接口之间的行分压电阻链，和用于检测分压电位的电压检测 电路；触发按键后，电压检测电路将检测到的被触发按键的行分压电位与行参 考电位进行比较以确定所述被触发按键的列值，将检测到的被触发按键的列分 压电位与列参考电位进行比较以确定所述被触发按键的行值。

在本发明所述的键盘中，还包括所述键盘还包括在按键被按下之后，向所 述列分压电阻链和行分压电阻链提供电压的控制电路。

在本发明所述的键盘中，所述键盘的接口为四线接口。

在本发明所述的键盘中，所述分压电阻链上的电阻均为等值电阻。

在本发明所述的键盘中，所述电压检测电路还包括模数转换电路，用于将 行参考电位和被触发按键的行分压电位的比值转换为被触发按键的列值，将所 述列参考电位和被触发按键的列分压电位的比值转换为被触发按键的行值。

在本发明所述的键盘中，所述行参考电位是施加在行分压电阻链上的总电 压，所述列参考电位是施加在列分压电阻链上的总电压。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种键盘检测方法，包 括：a.在按键触发后，检测被触发按键的行分压电位和列分压电位；b.将检 测到的被触发按键的行分压电位与行参考电位进行比较以确定所述被触发按 键的列值，将检测到的被触发按键的列分压电位与列参考电位进行比较以确定 所述被触发按键的行值。

在本发明所述的键盘检测方法中，所述步骤a还包括：a1触发按键后， 在行分压电阻链两端施加电压，将列分压电阻链断路，以检测被触发按键的行 分压电位；a2触发按键后，在列分压电阻链两端施加电压，将行分压电阻链 断路，以检测被触发按键的列分压电位。

在本发明所述的键盘检测方法中，所述步骤b包括：b1将行参考电位和 被触发按键的行分压电位的比值转换为被触发按键的列值；b2将列参考电位 和被触发按键的列分压电位的比值转换为被触发按键的行值。

在本发明所述的键盘检测方法中，所述行参考电位是施加在所述行分压电 阻链上的总电压，所述列参考电位是施加在所述列分压电阻链上的总电压。

实施本发明的键盘和键盘检测方法，具有以下有益效果：

本发明通过电阻链的方式来使得原来行列上的众多的接脚数量分别减少 为两个，这样整个矩阵键盘就只有4个接脚。

更进一步地，由于行和列的电阻是不会发生变化的，因此每一行每一列的 电位也是不会发生变化的，因此本发明具备非常高的稳定性和通用性，而且器 件均为长寿命的电阻，成本低，因此发生误识别按键的可能性也是很低的。而 且不受电压和电流变化的影响一次具备可大量产的能力，而且在未触发按键 时，不对整个键盘施加电压，因而功耗小。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1是现有技术中的键盘的电路图；