[发明专利]测量小室结构、特别是压力测量小室结构有效
| 申请号： | 200810081084.0 | 申请日： | 2008-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN101275877A | 公开（公告）日： | 2008-10-01 |
| 发明（设计）人： | 马丁·梅勒尔特 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | G01L19/00 | 分类号： | G01L19/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 赵冰 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 小室 结构 特别是 压力 | ||
1.一种测量小室结构(1)，尤其是压力测量小室结构，包括：
测量小室(6)，和
具有至少一个所存入的与测量小室有关的存储值(s)的存储装置(5)，其中测量小室(6)连同存储装置(5)一起被构造成可独立操纵的单元。
2.如权利要求1所述的测量小室结构，其中所述存储装置(5)被固定在测量小室(6)上。
3.如权利要求1或2所述的测量小室结构，其中所述存储装置(5)通过一个印刷电路板(7)固定在测量小室(6)上。
4.如权利要求3所述的测量小室结构，其中所述存储装置(5)被设置在印刷电路板(17)与测量小室(6)之间。
5.如以上权利要求中任一项所述的测量小室结构，其具有集成电路(7)，所述集成电路被设计成和/或可编程为用于将至少一个与测量小室有关的存储值(s)存入到所述存储装置(5)中，和/或用于从所述存储装置(5)读出至少一个与测量小室有关的存储值。
6.如权利要求5所述的测量小室结构，其中所述存储装置(5)被包含在集成电路(7)中。
7.如权利要求5或6所述的测量小室结构，其中所述集成电路(7)具有处理器或控制装置，用于提供由测量小室(6)的测量数据(m)所获得的数据(f)。
8.如以上权利要求中任一项所述的测量小室结构，其具有温度测量装置(26)，用于提供一个与测量小室(6)区域中的温度有关的温度值(Ut)，从而产生至少一个与测量小室有关的存储值(s)。
9.如以上权利要求中任一项所述的测量小室结构，其具有一个接口(8)，用于在所述存储装置(5)与外部装置之间传输数据。
10.如权利要求9所述的测量小室结构，其中所述外部装置是处理器或控制装置(3，μC)，用于借助于至少一个与测量小室有关的存储值(s)和/或借助于来自测量小室(6)的测量数据(m)或由测量数据(m)获得的数据(f)提供经过处理的测量数据(vd)。
11.如以上权利要求中任一项所述的测量小室结构，其中测量小室(6)的外径小于40mm，特别是小于25mm。
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