[发明专利]测量小室结构、特别是压力测量小室结构

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量小室结构，特别是压力测量小室结构。

背景技术

通常用于在例如导管或竖井中测量压力的测量装置由一个带有集成电子器件的外壳以及位于前端的带有一个测量小室的测量小室结构组成。所述测量小室的测量值被送至电子器件并由其进行处理，从而通过外部接口给出处理后的数据。

由于制造条件的容差和制造测量小室结构时的误差，通常在制造之后的第一步骤中确定测量小室结构的参数和/或测量值。只要所述参数和测量值处于允许的容差范围内，该测量小室结构被提供以随后放入到测量装置的外壳中，特别是被入库。其中在入库时部分地按照小室结构的品质的不同来进行区分，使得低品质的测量小室结构与高品质的测量小室结构被分开存放。

在随后的第二时间点，如此提供的测量小室结构被放入到测量装置的外壳中并与测量装置的电子器件或控制装置相连接。此外还要进行对测量小室的测量值和/或参数的第二次重新测量，以形成一个与测量小室有关的存储值作为校正值，用于根据能够提供如此确定的该特定测量小室结构的特定参数校正测量值或由它获得的数据，并在随后的测量过程中在控制装置中提供已处理并从而校正后的数据。然后，这样的与测量小室有关的存储值被存储在测量装置外壳中的一个与测量装置的电器件相对应的存储器中。

这种方法的缺点在于，最终每个测量小室或测量小室结构针对至少一个测量值或参数被检测两次，第一次用于测量小室结构的预选或分类拣选，而第二次用于为该测量小室结构确定校正值。

发明内容

本发明的目的在于建议一种测量小室结构，尤其是压力测量小室结构，它可以用很低的开销被放入到测量装置中。

上述任务由具有权利要求1所述特征的测量小室结构、特别是压力测量小室结构来实现。

从属权利要求给出了具有优点的实施例。

相应地，测量小室结构、尤其是电容性的压力测量小室结构具有测量小室和存储装置，在所述存储装置中存有至少一个所存入的与测量小室有关的存储值。其中测量小室连同存储装置一起被构造成可独立操纵的单元。

其中所述存储装置最好被固定在该测量小室上。所述存储器装置具有优点地通过一个印刷电路板被固定在测量小室上。所述存储装置最好节省空间地被设置在印刷电路板与测量小室之间通常所具有的自由空间内。

在测量小室结构中最好设置有一个集成电路，它被配置为和/或可编程为将至少一个与测量小室有关的存储值存入到所述存储装置中和/或从所述存储装置读出至少一个与测量小室有关的存储值。特别是，由此可以对将要存入或已存入的数据进行处理，并能有目的地对所述存储装置进行存取。存储装置可以通过简单的方式和方法直接设置在集成电路中。

所述集成电路可以具有处理器或者也用于更高级处理的控制装置，所述处理器或控制装置尤其是用于提供从测量小室的测量数据获得的数据。这样，可以由测量小室结构借助于控制装置给出所提供的频率值，而不是例如电容性测量值或测量数据。

测量小室结构最好直接配备用来提供与测量小室范围内的温度有关的温度值的温度测量装置，以直接产生至少一个与测量小室有关的存储值或者提供参考值，外部控制电路利用该值可以确定并提供与测量小室有关的存储值。

测量小室结构以通常的方式和方法配备有用于在所述存储装置与外部装置之间传输数据的接口，其中除了纯测量数据之外还可通过它传输与测量小室有关的存储值。这里所述外部装置最好被配置为处理器或控制装置，用来借助于至少一个与测量小室有关的存储值和/或借助于由测量小室得到的测量数据或由测量数据获得的数据形成经过处理的测量数据。

测量小室具有优点地可以具有小于40mm的外径，最好外径小于25mm。

根据本发明，最好还独立地给出一种用于提供这种测量小室结构的方法，其中在制造所述测量小室结构之后确定测量小室结构的参数和/或测量值，并且接着该测量小室结构被提供以随后装入到测量装置的外壳中，特别是被入库，其中在确定所述测量值和/或参数之后至少一个与测量小室有关的存储值根据所述测量值和/或参数被提供，并被存入到所述测量小室结构的存储装置中。

根据本发明，测量装置、特别是压力测量装置最好独立地具有可放入或已放入的这种测量小室结构，用于传输测量数据和至少一个来自这种已放入的测量小室结构的存储装置的与测量小室有关的存储值的接口，以及用于借助至少一个与测量小室有关的存储值并借助来自该测量小室结构中的该测量小室的测量数据或由测量数据获得的数据来提供经过处理的测量数据的处理器或控制电路。