[发明专利]测试电子部件的系统及其控制方法

权利要求书

1、一种测试电子部件的系统，该系统利用机器人自动测试电子部件，该系统包括：

距离测量单元，测量安装在基底上用于测试电子部件的插槽和用于提供参考位置的参考块之间的距离；

位置测量单元，检测参考块的位置信息；

控制器，在所检测的参考块的位置信息的基础上，利用所测量的插槽和参考块之间的距离计算插槽的位置信息，并利用所计算的插槽的位置信息控制机器人。

2、如权利要求1所述的系统，其中，所述距离测量单元利用视觉系统测量插槽和参考块之间的距离。

3、如权利要求1所述的系统，其中，所述位置测量单元利用激光传感器检测参考块的位置信息。

4、如权利要求3所述的系统，其中，所述位置测量单元利用从激光传感器照射到参考块上的光束被反射的程度来检测参考块的位置信息。

5、如权利要求3所述的系统，其中，所述位置测量单元利用参考块的上表面的边来检测位置信息。

6、如权利要求5所述的系统，其中，当从激光传感器照射到参考块的光束未被反射时，所述位置测量单元确定参考块的上表面的边并检测参考块的位置信息。

7、一种控制用于测试电子部件的系统的方法，该系统利用机器人自动测试电子部件，该方法包括以下步骤：

测量安装在基底上用于测试电子部件的插槽和用于提供参考位置的参考块之间的距离；

检测参考块的位置信息；

在所检测的参考块的位置信息的基础上，利用所测量的插槽和参考块之间的距离计算插槽的位置信息；

利用所计算的插槽的位置信息控制机器人。

8、如权利要求7所述的方法，其中，所述测量距离的步骤包括利用视觉系统测量插槽和参考块之间的距离。

9、如权利要求7所述的方法，其中，所述检测参考块的位置信息的步骤包括利用激光传感器检测参考块的位置信息。

10、如权利要求9所述的方法，其中，所述检测参考块的位置信息的步骤包括：利用从激光传感器照射到参考块的光束被反射的程度来检测参考块的位置信息。

11、如权利要求9所述的方法，其中，所述检测参考块的位置信息的步骤包括利用参考块的上表面的边来检测位置信息。

12、如权利要求11所述的方法，其中，所述检测参考块的位置信息的步骤包括当从激光传感器照射到参考块的光束未被反射时，确定参考块的上表面的边并检测参考块的位置信息。

13、一种控制用于测试电子部件的系统的方法，该方法包括：

测量安装在基底上用于测试电子部件的插槽和参考块之间的距离；

检测参考块的位置信息，根据照射到参考块上的光束是否被反射来检测所述位置信息；

在所检测的参考块的位置信息的基础上，利用所测量的插槽和参考块之间的距离计算插槽的位置信息。

14、如权利要求13所述的方法，其中，当确定照射到参考块上的光束未被反射时，检测所述参考块的边。

15、如权利要求13所述的方法，其中，所述系统包括用于检测照射到参考块上的光束是否被反射的传感器，当确定照射到参考块上的光束被反射时，将传感器从初始检测位置移动到第二检测位置。