[发明专利]测试电子部件的系统及其控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试电子部件的系统，更具体地讲，涉及一种能够根据插槽的位置变化自动检测插槽的位置以测试电子部件的用于测试电子部件的系统及其控制方法。

背景技术

近来，随着半导体技术的快速发展，实现了所有电气/电子设备的小尺寸和高密度。此外，随着工业机器人的发展，开发出了利用机器人测试电气/电子设备的性能的测试装置。

例如，当将存储芯片制造并随后安装在实际上用于用户环境的主板上，以测试存储芯片的性能时，使用工业机器人来自动地将存储芯片插入安装在主板上的插槽或将存储芯片与插槽分离。

为了测试电子部件的性能，插入电子部件的插槽的位置通过离线工作程序输入机器人，基于参考块来检测插槽的位置，所述参考块是利用接触传感器检测插槽的位置的参考工具。

检测到插槽的位置后，利用机器人将存储芯片插入插槽中，测试存储芯片的性能，并利用机器人将插入的存储芯片与插槽分离。

但是，由于作为用于测试存储芯片的工具箱(work box)的主要组件的主板随着时间的过去应该更换为新的型号，因此在系统自动操作时会出现严重的问题。

即，只要将主板换成新的主板，就应该重新改变存储芯片插入的位置并将其输入机器人。当主板被修理并被重新安装时，与当主板被换成新的主板时一样，也会出现这种问题。

因此，重新改变存储芯片的插入位置并将其输入机器人需要大量时间。由于该时间对应于系统停止的时间，因此降低了系统的效率。

发明内容

因此，本发明的一方面在于提供一种具有改进的结构的用于测试电子部件的系统及其控制方法，该系统能够根据插槽的位置变化自动地检测插槽的位置，以有效地测试电子部件，并提高系统的效率。

将在下面的描述中部分地阐述附加方面和/或优点，所述附加方面和/或优点将部分地通过描述而明显，或者可以通过实施本发明而了解。

依照实施例，前述和/或其他方面可以通过提供一种利用机器人自动测试电子部件的用于测试电子部件的系统来实现，该系统包括：距离测量单元，测量安装在基底上用于测试电子部件的插槽和用于提供参考位置的参考块之间的距离；位置测量单元，检测参考块的位置信息；控制器，在所检测的参考块的位置信息的基础上，利用所测量的插槽和参考块之间的距离计算插槽的位置信息，并利用所计算的插槽的位置信息控制机器人。

所述距离测量单元可以利用视觉系统测量插槽和参考块之间的距离。

所述位置测量单元可以利用激光传感器检测参考块的位置信息。

所述位置测量单元可以利用从激光传感器照射到参考块上的光束被反射的程度来检测参考块的位置信息。

所述位置测量单元可以利用参考块的上表面的边检测位置信息。当从激光传感器照射到参考块的光束未被反射时，所述位置测量单元可以确定参考块的上表面的边并检测参考块的位置信息。

前述和/或其他方面可以通过提供一种控制利用机器人自动测试电子部件的用于测试电子部件的系统的方法来实现，该方法包括以下步骤：测量安装在基底上用于测试电子部件的插槽和用于提供参考位置的参考块之间的距离；检测参考块的位置信息；在所检测的参考块的位置信息的基础上，利用所测量的插槽和参考块之间的距离计算插槽的位置信息；利用所计算的插槽的位置信息控制机器人。

所述测量距离的步骤可以包括利用视觉系统测量插槽和参考块之间的距离。

所述检测参考块的位置信息的步骤可以包括利用激光传感器检测参考块的位置信息。

所述检测参考块的位置信息的步骤可以包括：利用从激光传感器照射到参考块的光束被反射的程度来检测参考块的位置信息。

所述检测参考块的位置信息的步骤可以包括利用参考块的上表面的边来检测位置信息。

所述检测参考块的位置信息的步骤可以包括：当从激光传感器照射到参考块的光束未被反射时，确定参考块上表面的边并检测参考块的位置信息。

前述和/或其他方面可以通过提供一种控制用于测试电子部件的系统的方法来实现，该方法包括以下步骤：测量安装在基底上用于测试电子部件的插槽和参考块之间的距离；检测参考块的位置信息，根据照射到参考块上的光束是否被反射来检测所述位置信息；在所检测的参考块的位置信息的基础上，利用所测量的插槽和参考块之间的距离计算插槽的位置信息。

当确定照射到参考块上的光束未被反射时，可以检测所述参考块的边。

所述系统可以包括用于检测照射到参考块上的光束是否被反射的传感器，当确定照射到参考块上的光束被反射时，将传感器从初始检测位置移动到第二检测位置。

附图说明