[发明专利]成像装置、成像系统、其控制方法和其程序的存储介质有效
申请号: | 200810090078.1 | 申请日: | 2008-04-02 |
公开(公告)号: | CN101282427A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 竹中克郎;远藤忠夫;龟岛登志男;八木朋之;横山启吾 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H04N5/32 | 分类号: | H04N5/32;A61B6/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杨国权 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 装置 系统 控制 方法 程序 存储 介质 | ||
1、一种成像装置,包括:
检测单元,包括在基底上按阵列布置的多个转换元件,这些转换元件用于将入射辐射或入射光转换为电信号,以得到基于该电信号的图像;
存储器单元,用于存储基于在将偏压施加于转换元件之后的时间的检测单元的暗电流响应特性;
第一时间段测量单元,用于测量第一时间段,第一时间段从偏压到转换元件的施加直到用于得到所述图像的转换元件的累积的开始为止;
第二时间段测量单元,用于测量第二时间段,第二时间段从累积的开始直到累积的结束为止;
累积电荷量算术运算单元,用于基于暗电流响应特性以及第一和第二时间段来计算包括在累积中的暗电流累积电荷量;和
图像处理单元,基于暗电流累积电荷量进行得到的图像的偏移校正。
2、根据权利要求1所述的成像装置,还包括:
累积时间段算术运算单元,用于基于暗电流响应特性、第一和第二时间段以及暗电流累积电荷量来计算用于从检测单元得到暗电流累积电荷量的第三时间段;和
控制单元,根据第三时间段控制检测单元,其中,
图像处理单元基于从由控制单元根据第三时间段控制的检测单元得到的偏移校正数据来进行所述图像的偏移校正。
3、根据权利要求1所述的成像装置,其中,
图像处理单元基于通过对偏移数据的算术运算处理得到的偏移校正数据进行所述图像的偏移校正,其中预先根据从暗电流响应特性以及第一和第二时间段计算的放射照相的暗电流累积电荷量得到所述偏移数据。
4、根据权利要求1所述的成像装置,其中,
通过作为指数函数的逼近法来计算所述暗电流响应特性。
5、根据权利要求1所述的成像装置,其中,
所述转换元件由作为主组分材料的非晶硅形成。
6、根据权利要求1所述的成像装置,其中,
所述转换元件包括波长转换器和光电转换元件,所述波长转换器用于将入射辐射转换为光,所述光电转换元件用于将所述光转换为电信号。
7、一种成像系统,包括:
根据权利要求1所述的成像装置;和
辐射产生装置,用于产生辐射。
8、一种成像装置的控制方法,所述成像装置包括:
检测单元,包括在基底上按阵列布置的多个转换元件,这些转换元件用于将入射辐射或入射光转换为电信号,以得到基于该电信号的图像;和
存储器单元,用于存储基于在将偏压施加于转换元件之后的时间的检测单元的暗电流响应特性,
所述方法包括以下步骤:
测量第一时间段,第一时间段从偏压到转换元件的施加直到用于得到所述图像的转换元件的累积的开始为止;
测量第二时间段,第二时间段从累积的开始直到累积的结束为止;
基于暗电流响应特性以及第一和第二时间段来计算包括在累积中的暗电流累积电荷量;和
基于计算的暗电流累积电荷量进行得到的图像的偏移校正。
9、一种用于存储成像装置的控制方法的程序的存储介质,所述成像装置包括:
检测单元,包括在基底上按阵列布置的多个转换元件,这些转换元件用于将入射辐射或入射光转换为电信号,以得到基于该电信号的图像;和
存储器单元,用于存储基于在将偏压施加于转换元件之后的时间的检测单元的暗电流响应特性,
其中,通过计算机,所述程序执行以下步骤:
测量第一时间段,第一时间段从偏压到转换元件的施加直到用于得到所述图像的转换元件的累积的开始为止;
测量第二时间段,第二时间段从累积的开始直到累积的结束为止;
基于暗电流响应特性以及第一和第二时间段来计算包括在累积中的暗电流累积电荷量;和
基于计算的暗电流累积电荷量进行得到的图像的偏移校正。
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