[发明专利]标准单元和具有该标准单元的半导体装置

权利要求书

1、一种标准单元，用于构成半导体装置，

布线间距在170nm以下，

该标准单元包括：

第一信号布线，其形成于第一布线层，并沿第一方向延伸；和

第二和第三信号布线，形成于所述第一布线层，沿实质上与所述第一方向垂直的第二方向延伸，并隔着所述第一信号布线而对置；

所述第二和第三信号布线中的至少一方的布线宽度比所述第一信号布线的布线宽度大。

2、根据权利要求1所述的标准单元，其特征在于，

所述第二和第三信号布线中的至少一方的布线宽度在该标准单元内的信号布线中最大。

3、根据权利要求1或2所述的标准单元，其特征在于，

所述第二和第三信号布线的布线宽度均比所述第一信号布线的布线宽度大。

4、一种标准单元，用于构成半导体装置，

布线间距在170nm以下，

该标准单元包括：

第一信号布线，其形成于第一布线层，并沿第一方向延伸；

第二和第三信号布线，形成于所述第一布线层，沿实质上与所述第一方向垂直的第二方向延伸，并隔着所述第一信号布线而对置；

第四信号布线，其形成于所述第一布线层，并沿所述第一方向延伸；

第五信号布线，其形成于所述第一布线层，沿所述第二方向延伸，并与所述第四信号布线邻接；

所述第二信号布线的布线端与所述第一信号布线之间的间隔、以及所述第三信号布线的布线端与所述第一信号布线之间的间隔中的至少一方，比所述第五信号布线的布线端与所述第四信号布线之间的间隔大。

5、根据权利要求4所述的标准单元，其特征在于，

所述第二信号布线的布线端与所述第一信号布线之间的间隔、以及所述第三信号布线的布线端与所述第一信号布线之间的间隔，均比所述第五信号布线的布线端与所述第四信号布线之间的间隔大。

6、一种标准单元，用于构成半导体装置，

布线间距在170nm以下，

该标准单元包括：

第一信号布线，其形成于第一布线层，与单元框邻接，且与单元框平行地延伸；和

第二信号布线，其形成于所述第一布线层；

所述第一信号布线的布线宽度比所述第二信号布线的布线宽度大。

7、根据权利要求6所述的标准单元，其特征在于，

所述第一信号布线的布线宽度在该标准单元内的信号布线中最大。

8、一种标准单元，用于构成半导体装置，

布线间距在170nm以下，

该标准单元包括：

第一信号布线，其形成于第一布线层，与单元框邻接，且沿与单元框垂直的方向延伸；和

第二信号布线，其形成于所述第一布线层；

所述第一信号布线的布线宽度比所述第二信号布线的布线宽度大。

9、根据权利要求8所述的标准单元，其特征在于，

所述第一信号布线的布线宽度在该标准单元内的信号布线中最大。

10、一种半导体装置，具备权利要求1～9中任一项所述的标准单元。