[发明专利]贴合基板的制造方法有效
申请号: | 200810093348.4 | 申请日: | 2008-04-18 |
公开(公告)号: | CN101290872A | 公开(公告)日: | 2008-10-22 |
发明(设计)人: | 秋山昌次;久保田芳宏;伊藤厚雄;田中好一;川合信;飞坂优二 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/02;H01L21/20;H01L21/762;H01L21/84 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 吴小瑛;刘春生 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 贴合 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种贴合基板的制造方法,特别是涉及一种于绝缘性基板的 表面上形成有硅薄膜的贴合基板的制造方法。
背景技术
为了谋求半导体器件更进一步的高性能化,绝缘层上覆硅(SOI(Silicon on insulator))基板近年受到注目。而且,支持基板(支撑片(handle wafer))并 不是硅的石英上硅(SOQ(Silicon on quartz))基板与玻璃上硅(SOG(Silicon on glass))基板等,也被期待应用于TFT-LCD或高频(RF)器件、其它微机 电系统(MEMS)制品等。
上述SOQ基板等,提出一种制造方法,是例如将硅基板作为施主晶片 (donor wafer)、将石英基板作为支撑片,并将这些异种基板贴合而制造(参 照日本专利特开2006-324530号公报)。于如此制作出来的贴合基板中,石 英基板通常是以表面及背面同时进行研磨处理的双面抛光来制作,因此背面 也为镜面,与将硅基板彼此之间贴合而制造的通常的SOI基板不同,而会具 有工序、评价上产生问题的情形。
作为这样的问题之一,可举出如:在装置上搬运及固定SOQ基板时, 晶片密接于平台而难以自平台取出;更由于是透明基板,表面和背面的识别 困难,而会诱发处理中的操作失误。
发明内容
本发明是鉴于上述问题而开发出来的,其目的是提供一种贴合基板的制 造方法,在使用绝缘性基板作为支撑片来制造贴合基板时,通过将该贴合基 板的背面(也即绝缘性基板的背面)粗面化而容易搬运及在载置后取出;进 而对于将透明绝缘性基板作为支撑片的该贴合基板,提供一种制造贴合晶片 的方法,其表面的识别更与硅半导体晶片的工序同样简便。
为了解决上述课题,本发明提供一种贴合基板的制造方法,是将绝缘性 基板用于支撑片,并在该绝缘性基板的表面上,贴合施主晶片的制造贴合基 板的方法,其至少对上述绝缘性基板的背面,施以喷砂(sandblast)处理。
如此,在将绝缘性基板用于支撑片,并于该绝缘性基板的表面上贴合施 主晶片的制造贴合基板的方法中,通过对绝缘性基板的背面施以喷砂处理, 可将绝缘性基板的背面粗糙化,通过粗面化而容易搬运及在载置后取出,例 如,进而对于将透明绝缘性基板作为支撑片的该贴合基板,则其表面的识别 更与硅半导体晶片的工序同样简便。
而且,本发明提供一种贴合基板的制造方法,是将绝缘性基板用于支撑 片,并在该绝缘性基板的表面上,贴合施主晶片的制造贴合基板的方法,其 至少在准备于上述绝缘性基板的表面上形成有硅薄膜的贴合基板后,对该贴 合基板的背面,施以喷砂处理。
如此,则通过粗面化而容易搬运及在载置后取出,进而对于以透明绝缘 性基板作为支撑片的该贴合基板,则其表面的识别更与硅半导体晶片的工序 同样简便。
而且,本发明提供一种贴合基板的制造方法,是在绝缘性基板的表面上 形成硅薄膜,并使上述绝缘性基板的背面粗糙化的制造贴合基板的方法,其 至少先准备于上述绝缘性基板的表面上形成有硅薄膜的贴合基板,将保护胶 带贴在该贴合基板的至少硅薄膜上,然后对上述绝缘性基板的背面,施以喷 砂处理。
如此,由于包含至少于贴合基板的硅薄膜上贴保护胶带之后,对绝缘性 基板的背面施以喷砂处理的技术特征,因此通过粗面化而容易搬运及在载置 后取出;进而对于以透明绝缘性基板作为支撑片的该贴合基板,其表面的识 别更与硅半导体晶片的工序同样简便,同时通过保护胶带则可使硅薄膜的表 面不受到喷砂处理的影响。
此时,对上述绝缘性基板的背面施以喷砂处理之后,可将上述保护胶带 剥离,并以含氢氟酸的溶液,处理上述贴合基板。
喷砂处理后,因为将前述保护胶带剥离,并以含氢氟酸的溶液处理贴合 基板,而可有效地抑制来自施以喷砂处理的背面凹凸处的灰尘。因此,可抑 制微粒污染的发生。
而且,本发明提供一种贴合基板的制造方法,是在绝缘性基板的表面上 形成硅薄膜,并使上述绝缘性基板的背面粗糙化的制造贴合基板的方法,其 至少先准备于上述绝缘性基板的表面上形成有硅薄膜的贴合基板,在该贴合 基板的至少硅薄膜上形成有机膜,然后对上述绝缘性基板的背面施以喷砂处 理后,以含氢氟酸的溶液处理上述贴合基板,再除去上述有机膜。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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