[发明专利]确定机床或测量机中的几何误差的方法有效
申请号: | 200810096973.4 | 申请日: | 2008-05-12 |
公开(公告)号: | CN101349556A | 公开(公告)日: | 2009-01-21 |
发明(设计)人: | 亚历山德罗·巴尔萨莫;米凯莱·韦尔迪 | 申请(专利权)人: | 海克斯康测量技术有限公司;国家测量技术研究院(I.N.RI.M.) |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 章社杲;吴贵明 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 机床 测量 中的 几何 误差 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种确定机床或测量机中的几何误差的方法。
本发明优选地但不是排他地应用于测量机,为了简洁起见,随 后的描述参照测量机进行,但仅仅是以实例的方式。
背景技术
从WO2005/019769中可知道一种确定机器中几何误差的方法, 在该专利中操作机器以使测量空间中的背反射器(back-reflector) 沿着相对于坐标轴定向的三维网格(grid)移动,并接着获得网格 点。反射器被位于机器底座(machine bed)上且包括干涉仪的光学 跟踪装置或“激光跟踪器”跟踪;每个所获得的网格点与同激光源 相关联的预定参考点之间的实际距离由干涉测量法测量;如所知 的,这个距离可在不存在干涉仪的未知死路径(dead path)的情况 下被确定。
用跟踪器激光在测量机底座上的不同位置执行相同的操作次序。
根据机器的动力学模型,处理所获得的点的坐标以及由干涉仪 测得的距离,以计算机器的误差参数。
上面简要描述的已知方法具有如下缺点:需要极为精确的、因 此复杂、高成本的能够沿着激光束的方向变化进行连续的干涉测量 的激光跟踪器。
此外,对于激光跟踪器的每个位置,它引入了干涉仪的死路径、 以及激光跟踪器位置形式的额外未知量。
发明内容
本发明目的是提供一种确定笛卡尔机器中的几何误差的方法, 设计该方法以消除通常与已知方法相关的前述缺点。
根据本发明,提供了一种确定机床或测量机(该测量机包括用 于在测量空间内移动标靶的移动单元)中的几何误差的方法,该方 包括以下步骤:在测量空间内确定方向;利用移动单元将标靶沿着 所述方向移动到多个点;利用测量装置测量每个所述点距离沿着所 述方向定位的原点的横坐标;利用所述机器获得每个点的坐标;对 测量空间内的多个方向重复前述的步骤;以及根据测量装置测得的 横坐标和由所述机器获得的点的坐标来确定所述机器的误差参数。
附图说明
将参照附图,通过实例的方式描述本发明的优选且非限制性的 实施例,附图中:
图1示出了根据本方法操作的测量机和干涉仪测量装置;
图2示出了图1的干涉仪测量装置。
具体实施方式
图1中的标号1表示作为整体的测量机,该测量机包括:平的 底座2,该底座具有水平参考面3且用于支撑将被测量的物体(未 示出),该水平参考面平行于一组三个的笛卡尔轴X、Y、Z中的两 个水平轴X、Y;以及移动单元4。
单元4包括:可沿着轴Y相对于底座2移动的桥接件(bridge) 5,并进而包括两个竖直件6和7,以及在竖直件6和7之间延伸且 平行于轴X的横向构件8。
单元4还包括:托架(carriage)9,托架安装至横向构件8且 可沿着轴X在横向构件8上移动;以及测量头部10,安装至托架9 并可沿着轴Z相对于托架9移动。
头部10的底端方便地安装有已知的双轴连接装置11,该双轴 连接装置用于定向地支撑使用中的探针(未示出)且方便地包括具 有垂直轴A(即,平行于轴Z)和水平轴B(即,平行于平面XY) 的双轴“肘节”。
为了根据本发明的方法来确定机器1的几何误差,连接装置配 备有包括背反射器12的标靶,该背反射器可以是任何已知类型的, 例如猫眼或三面直角棱镜。
根据本发明的方法还使用干涉仪测量装置13来实施,即,这 样一种仪器:它能够产生激光束14且使该激光束沿着可随两个转 动自由度(方位角和仰角)变化的方向而定向,并且利用干涉测量 法确定沿这个方向定位的背反射器相对于预定原点的横坐标。
装置13(图2)方便地包括已知的商用干涉仪15、以及具有两 个自由度的光束偏转器19。光束偏转器19可以通过已知的配备有 镜子17的读数器(indexing head)16限定,镜子接收由干涉仪15 产生的激光束14,并沿着由镜子17的方位限定的方向反射该激光束。
根据本发明的方法,装置13被连续地设定在机器1的测量空 间内的不同位置处;并且在装置13的每个位置中,沿着不同方向 连续地产生激光束14,下文中每个方向由可变下标j表示。
适当地选择装置13在测量空间内的连续位置的数目、以及从 每个位置产生的激光束的数目和方向,以覆盖整个测量空间,这在 随后将更详细地解释。
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