[发明专利]用于检测电路的测试环境的装置及方法有效

专利信息
申请号: 200810098136.5 申请日: 2008-05-15
公开(公告)号: CN101581744A 公开(公告)日: 2009-11-18
发明(设计)人: 柯宣仲;谢辰阳 申请(专利权)人: 京元电子股份有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R31/28
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿 宁;张华辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 电路 测试 环境 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于电路的测试环境的检测装置,其特征在于其包括:

一测试载板;

一插槽,其设置于该测试载板上,用以固定一待测元件,且令该待测元件电性连接该测试载板;以及

一天线,其设置于该测试载板上且邻近于该插槽,用以接收一无线信号,其中该天线的一接地端电性连接该测试载板的一接地端。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于其中所述的检测装置更包括选择为一频谱分析仪、一测试程序及其组合式的其中之一,用以分析该天线所传来的无线信号。

3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于其中所述的天线选择为一薄型天线、一平面天线、一倒F型天线及其组合式的其中之一。

4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于其中所述的待测元件为一射频集成电路。

5.一种用于电路的测试环境的检测方法,其特征在于其包括以下步骤:

放置一天线于一测试载板上,其中该天线的一接地端电性连接该测试载板的一接地端;

通过该天线以接收一无线信号;以及

选择使用一测试程序、一频谱分析仪的其中的一者来分析该天线所传来的无线信号。

6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于其中所述的天线可选择为一薄型天线、一平面天线、一倒F型天线及其组合式的其中之一。

7.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于其中所述的方法用于一射频集成电路的测试。

8.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于其中所述的天线用于侦测该测试环境附近的无线网路与无线电话所发出的多个通讯信号杂讯。

9.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于其中所述的天线放置邻近于一插槽,该插槽用于放置待测的该集成电路。 

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