[发明专利]叠层基板的裁切方法、半导体器件及其制法、发光装置无效
申请号: | 200810099517.5 | 申请日: | 2008-05-13 |
公开(公告)号: | CN101308801A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 太田清久 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L33/00;G02F1/13357 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本国大*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 叠层基板 方法 半导体器件 及其 制法 发光 装置 | ||
1.一种叠层基板的裁切方法,该叠层基板的正面形成有第一金属层且反面形成有第二金属层,
该叠层基板的裁切方法包括分别从上述第一金属层侧和上述第二金属层侧进行裁切并裁切到上述叠层基板的厚度中途为止的步骤;
从上述第一金属层侧进行裁切的切口宽度和从上述第二金属层侧进行裁切的切口宽度相互不同。
2.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
从上述第二金属层侧进行裁切的切口宽度小于从上述第一金属层侧进行裁切的切口宽度。
3.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
从上述第二金属层侧进行裁切的切口宽度大于从上述第一金属层侧进行裁切的切口宽度。
4.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
对叠层基板进行裁切,使得宽度较小的切口位于宽度较大的切口的内侧。
5.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
最后的裁切步骤的切口宽度小于其它裁切步骤的切口宽度。
6.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
从第一金属层侧裁切上述第一金属层和上述叠层基板之间的界面;
从第二金属层侧裁切上述第二金属层和上述叠层基板之间的界面。
7.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
上述第一金属层的厚度大于上述第二金属层的厚度。
8.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
用超硬刀片裁切上述第一金属层。
9.根据权利要求8所述的叠层基板的裁切方法,其中,
一边沿着上述刀片的半径方向对上述刀片施加超声波一边进行裁切。
10.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
上述叠层基板是由不同材料层叠而成的多层基板。
11.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
上述叠层基板包括环氧玻璃基板。
12.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
上述叠层基板包括多层配线树脂层。
13.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
上述裁切步骤包括从上述第一金属层侧进行裁切并裁切到上述叠层基板的厚度中途为止从而形成第一裁切槽的步骤;以及从上述第二金属层侧进行裁切并裁切到上述第一裁切槽为止从而形成第二裁切槽的步骤,
上述形成第一裁切槽的步骤包括用超硬刀片裁切上述第一金属层并裁切至接近上述叠层基板的步骤。
14.根据权利要求1所述的叠层基板的裁切方法,其中,
上述裁切步骤包括从上述第二金属层侧进行裁切并裁切到上述叠层基板的厚度中途为止从而形成第一裁切槽的步骤;以及从上述第一金属层侧进行裁切并裁切到上述第一裁切槽为止从而形成第二裁切槽的步骤;
在上述形成第二裁切槽的步骤中,一边用刀片切入被粘贴在上述第二金属层侧的粘合膜一边形成上述第二裁切槽。
15.一种半导体器件的制造方法,该半导体器件具有在正面形成有第一金属层并在反面形成有第二金属层的叠层基板,
该半导体器件的制造方法包括分别从上述第一金属层侧和上述第二金属层侧进行裁切并裁切到上述叠层基板的厚度中途为止的步骤;
从上述第一金属层侧进行裁切的切口宽度和从上述第二金属层侧进行裁切的切口宽度相互不同。
16.一种半导体器件,通过半导体器件制造方法制成,该半导体器件具有在正面形成有第一金属层并在反面形成有第二金属层的叠层基板,
上述半导体器件制造方法包括分别从上述第一金属层侧和上述第二金属层侧进行裁切并裁切到上述叠层基板的厚度中途为止的步骤,从上述第一金属层侧进行裁切的切口宽度和从上述第二金属层侧进行裁切的切口宽度相互不同。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810099517.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有优良耐热性的树脂组合物
- 下一篇:终端信息定位方法和终端
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造