[发明专利]去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法有效
申请号: | 200810103788.3 | 申请日: | 2008-04-10 |
公开(公告)号: | CN101556439A | 公开(公告)日: | 2009-10-14 |
发明(设计)人: | 宋勇志 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G03F7/36 | 分类号: | G03F7/36;G02F1/1337;G02F1/1333 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘 芳 |
地址: | 100176北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 去除 模拟 基板上 聚酰亚胺 方法 | ||
1.一种去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法,其特征在于,包括:
步骤1、在设定的特征参数下,利用一组气体与模拟基板上聚酰亚胺膜 发生第一次反应;
步骤2、在设定的特征参数下,利用氧气的等离子体与所述第一次反应 后的残余物发生第二次反应;
所述设定的特征参数包括高频电源功率、压力以及气体流量;
且所述步骤2中所述设定的特征参数中高频电源功率为800瓦至3000 瓦,所述步骤2中所述设定的特征参数中压力为1100mTorr,所述步骤2中 所述设定的特征参数中气体流量为3000sccm。
2.根据权利要求1所述的去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法,其特征在 于,所述步骤2之前还包括:根据结束点探测模式确定所述第一次反应的时 间;
所述步骤2具体包括:当所述第一次反应的时间到达时,在设定的特征 参数下,利用氧气的等离子体与所述残余物发生第二次反应。
3.根据权利要求1所述的去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法,其特征在 于,所述步骤2还包括:利用所述氧气的等离子体去除模拟基板上的静电。
4.根据权利要求1所述的去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法,其特征在 于,所述步骤1具体包括:在设定的特征参数下,利用氦气、氧气、六氟化 硫的任意比例组合与模拟基板上聚酰亚胺膜发生第一次反应。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司,未经北京京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810103788.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电焊条
- 下一篇:一种全液压式数控四辊卷板机