[发明专利]一种扫描链诊断向量生成方法和装置及扫描链诊断方法

权利要求书

1、一种容忍组合逻辑故障的扫描链诊断向量生成方法，包括如下步骤：

步骤S1，确定扫描链的故障类型；

步骤S2，根据扫描链的故障类型设定约束条件；

步骤S3，在约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到的输出或伪输出数目最大，生成扫描链诊断向量。

2、根据权利要求1所述的扫描链诊断向量生成方法，其特征是，在步骤S1中，所述故障类型包括：固定为1故障、固定为0故障、过缓上升故障、过缓下降故障、过速上升故障和过速下降故障。

3、根据权利要求1所述的扫描链诊断向量生成方法，其特征是，在步骤S1中，通过将由0011模式组成的向量在扫描链中移入后直接移出的结果来确定扫描链的故障类型。

4、根据权利要求1所述的扫描链诊断向量生成方法，其特征是，在步骤S2中，所述设定约束条件包括：为了敏化当前候选扫描单元上的时序故障，设定当前候选扫描单元的相邻扫描单元的逻辑状态为与时序故障相应的特定值。

5、根据权利要求4所述的扫描链诊断向量生成方法，其特征是，在步骤S2中，所述设定约束条件还包括：为了使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到芯片的输出或扫描单元的伪输出，设置所述路径上的组合逻辑的旁路输入取非控制值。

6、根据权利要求5所述的扫描链诊断向量生成方法，其特征是，在步骤S2中，所述设定约束条件还包括：为了使所述非控制值在诊断向量移入过程中不被故障扫描单元污染，设置所述非控制值的相邻扫描单元为相应保护值。

7、根据权利要求1所述的扫描链诊断向量生成方法，其特征是，在步骤S2中，所述设定约束条件还包括：为了使扫描单元的逻辑状态传输到的伪输出扫描单元在移出过程中不被污染，设置该伪输出扫描单元的相邻扫描单元为相应保护值。

8、根据权利要求1所述的扫描链诊断向量生成方法，其特征是，所述步骤S3，具体包括如下步骤：

步骤S301，通过分析逻辑集成电路，建立当前扫描单元能够扇出到的输出组成输出集合；

步骤S302，在约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到所述输出集合中的原始输出或伪输出数目最大，生成扫描链诊断向量；

步骤S303，保存所述诊断向量。

9、根据权利要求8所述的扫描链诊断向量生成方法，其特征是，在步骤S302中还包括：将设定的约束条件构建成一个约束电路，在约束电路的输出端连接固定型故障诊断向量生成部件，将扫描单元的时序故障诊断向量生成转化为固定型故障的诊断向量生成。

10、一种容忍组合逻辑故障的扫描链诊断向量生成装置，其特征是，包括如下部件：

故障类型判别单元，用于判别扫描链的故障类型；

约束条件设定单元，用于根据故障类型设定约束条件；

诊断向量生成单元，用于在所述约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到的原始输出或伪输出数目最大，生成扫描链诊断向量。

11、根据权利要求10所述的扫描链诊断向量生成装置，其特征是，所述故障类型包括：固定为1故障、固定为0故障、过缓上升故障、过缓下降故障、过速上升故障、过速下降故障。

12、根据权利要求10所述的扫描链诊断向量生成装置，其特征是，所述设定约束条件包括：为了敏化当前候选扫描单元上的时序故障，设定当前候选扫描单元的相邻扫描单元的逻辑状态为与时序故障相应的特定值。

13、根据权利要求10所述的扫描链诊断向量生成装置，其特征是，所述设定约束条件还包括；为了使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到芯片的原始输出或扫描单元的伪输出，设置所述路径上的组合逻辑的旁路输入取非控制值。

14、根据权利要求13所述的扫描链诊断向量生成装置，其特征是，所述设定约束条件还包括：为了使所述非控制值在诊断向量移入过程中不被故障扫描单元污染，设置所述非控制值的相邻扫描单元为相应保护值。