[发明专利]衰减全反射传感器

权利要求书

1.用于确定溶解在测量介质(2)中的物质的ATR传感器(3)，

具有ATR体(4)，以及

具有壳体(7)，所述壳体包括光源(12)和检测器(13)，

其中所述ATR体(4)具有测量表面(5)，可以使所述测量表面与所述 测量介质(2)直接接触，以及，

其中所述ATR体(4)具有平行于所述测量表面(5)布置的校准表面 (10)，并且其中可以使所述校准表面(10)与校准标准接触和在至少一侧 上定界校准腔(9)，所述校准腔被布置在所述壳体(7)内部。

2.根据权利要求1所述的ATR传感器，其特征在于，可以将由所述光 源(12)发射的辐射耦合到所述ATR体(4)内，并且在测量表面(5)处 和校准表面(10)处交替地反射，以便可以确定吸收值，所述吸收值包括 测量介质的吸收以及校准标准的吸收。

3.根据权利要求1或2之一所述的ATR传感器，其特征在于，所述ATR 体(4)在ATR体(4)远离所述介质的侧面上具有至少一个凹槽(8)，所 述凹槽(8)由所述校准表面(10)定界，并且由适当的设备封闭，由此形 成所述校准腔(9)。

4.根据权利要求1至3之一所述的ATR传感器，其特征在于，所述校 准腔(9)具有至少一个用于引入和/或去除流体校准标准的连接。

5.根据权利要求1至4之一所述的ATR传感器，其特征在于，所述ATR 体(4)整体上由单件或者由借助光学透明的材料牢固连接的组件体形成。

6.根据权利要求5所述的ATR传感器，其特征在于，所述ATR体(4) 包括具有所述凹槽(8)的空心圆柱体，并且进一步包括覆盖所述空心圆柱 体的截锥，所述截锥的底部具有与所述空心圆柱体相同的直径。

7.用于溶解在测量介质(2)中的物质的ATR传感器(3)的检查校准 和/或执行在线校准的方法，所述ATR传感器特别是根据权利要求1至6之 一所述的ATR传感器，其中所述ATR传感器包括ATR体(4)，至少一个光 源(12)和至少一个检测器(13)，其特征在于，所述方法包括下面的步骤：

a.使所述ATR体(4)的测量表面(5)与所述测量介质(2)接触；

b.借助所述检测器(13)，在从所述光源(12)耦合到所述ATR体 (4)内的辐射的衰减全反射之后，记录对于至少一个波长的至少一个吸收 值；

c.使所述ATR体(4)平行于所述测量表面(5)延伸的校准表面(10) 与以第一浓度存在的第一流体校准标准接触；

d.记录至少一个第二吸收值，其中所述第二吸收值包括所述测量介 质(2)的吸收以及所述第一校准标准的吸收；

e.基于所述第一和第二吸收值和基于所述第一校准标准的浓度确 定校准检查功能，并且将所述校准检查功能与所述最初的校准比较；

和/或

f.通过至少一个具有第二浓度的第二校准标准重复步骤(c)和(d) 执行在线校准，并且记录第三吸收值；以及

g.基于第一、第二和第三吸收值以及第一和第二浓度确定实际的校 准功能。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述校准标准是引入校 准腔(9)或从校准腔(9)去除的流体介质，在一侧上，所述校准腔由所 述校准表面(10)定界。

9.根据权利要求7或8之一所述的方法，其特征在于，对于至少一个 测量波长和至少一个校准波长，测量所述校准标准的和所述测量介质的吸 收，以便依靠所述两个波长确定至少两个校准检查功能和/或至少两个当前 的校准功能。

10.根据权利要求7至9之一所述的方法，其特征在于，从所述第一 吸收值，借助所述最初的校准或借助当前的校准确定所述测量介质中所述 物质的含量。

11.根据权利要求7至10之一所述的方法，其特征在于，在所述测量 表面(5)处和平行于所述测量表面(5)延伸的所述校准表面(10)处交 替地反射由所述光源(12)发射的辐射。

12.存在于根据权利要求1至6之一所述的ATR传感器的处理单元中 的计算机程序，其用于实现根据权利要求7至11之一所述的方法，特别地 用于借助最初的校准或当前的校准确定测量结果，和/或检验校准。