[发明专利]光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法有效
| 申请号： | 200810109795.4 | 申请日： | 2004-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN101312063A | 公开（公告）日： | 2008-11-26 |
| 发明（设计）人： | 黄盛熙;高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B20/12;G11B7/007 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;邱玲 |
| 地址： | 韩国京畿道*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 记录 介质 再现 设备 方法 | ||
1.一种在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的设 备，所述设备包括：
写/读单元，将数据写到光学记录介质上和/或从光学记录介质读取数据；
控制单元，从光学记录介质检测连续缺陷块，并产生连续缺陷列表条目， 所述连续缺陷列表条目包括分别与连续缺陷块中的第一缺陷块和最后缺陷块 相应的开始条目和结束条目，
其中，所述开始条目包括第一缺陷块的状态信息和位置信息，以及用于 替换第一缺陷块的替换块的位置信息；所述结束条目包括最后缺陷块的状态 信息和位置信息，以及用于替换最后缺陷块的替换块的位置信息，
其中，所述状态信息包括替换状态信息和连续缺陷信息；其中，所述替 换状态信息表示缺陷块是否被替换；所述连续缺陷信息表示缺陷列表条目是 否是连续缺陷列表条目，以及如果缺陷列表条目是连续缺陷列表条目，则缺 陷列表条目是开始条目还是结束条目。
2.一种在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的设 备，所述设备包括：
写/读单元，将数据写到光学记录介质上和/或从光学记录介质读取数据；
控制单元，控制写/读单元从光学记录介质读取连续缺陷列表条目，所述 连续缺陷列表条目包括分别与连续缺陷块中的第一缺陷块和最后缺陷块相应 的开始条目和结束条目，
其中，所述开始条目包括第一缺陷块的状态信息和位置信息，以及用于 替换第一缺陷块的替换块的位置信息；所述结束条目包括最后缺陷块的状态 信息和位置信息，以及用于替换最后缺陷块的替换块的位置信息，
其中，所述状态信息包括替换状态信息和连续缺陷信息；其中，所述替 换状态信息表示缺陷块是否被替换；所述连续缺陷信息表示缺陷列表条目是 否是连续缺陷列表条目，以及如果缺陷列表条目是连续缺陷列表条目，则缺 陷列表条目是开始条目还是结束条目。
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